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ガラスやセラミックス材料を製品化するための研究開発には、これらの材料の機能性発現を分析・解析する評価計測技術の構築が求められています。熱物性や機械物性そして光物性等の発現は、材料の電子や原子・分子構造の振る舞いに左右されています。これらの電子や原子・分子構造を調べる手段として、SPring-8の放射光を用いたXAFS分光法による構造解析が有力な分析・解析手法として、ガラスやセラミックス材料への適用が期待されています。今回は、XAFS分光法をガラスやセラミックス材料に適用した話題をご紹介します。多数の方々のご来聴を歓迎いたします。 |
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| 主 題: | ガラス・セラミックス材料の機能発現を分析・解析するためのXAFS分光法の利用 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
主 催: |
SPring-8利用推進協議会 研究開発委員会 |
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共 催: |
(財)高輝度光科学研究センター
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日 時: |
2010年8月27日(金)13:10〜17:25(研究会)17:40〜19:00(技術交流会) |
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会 場: |
きゅりあん 6階大会議室(〒140-0011東京都品川区東大井5-18-1)
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| プログラム: | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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