テーマN1 磁気記憶材料等の元素別磁化測定 (BL39XU)
走査型硬X線顕微鏡によるFe-K吸収端における元素別磁気イメージング ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,668KB
高垣 昌史       高輝度光科学研究センター
立方体形状FePtナノ微粒子の磁気的特性の硬X線磁気円二色性による研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出3,078KB
山本 真平       京都大学 化学研究所
光電子顕微鏡を用いた界面ナノ構造のイメージング ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,334KB
小野 寛太       高エネルギー加速器研究機構
テーマN2 半導体等ナノ薄膜の表面・界面構造解析(BL13XU)
X線共鳴散乱法によるIII-V族化合物半導体のナノ周期構造の評価 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,782KB
小柴 俊        香川大学 工学部
Surface X-ray Structure Analysis of Water on C(111)Electrode
                     C((111)電極表面の表面X線構造解析)
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,910KB
伊藤 正時       慶応義塾大学 理工学部
カーボンナノチューブ高密度成長のための触媒微粒子結晶構造の解明 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,191KB
粟野 祐二       株式会社 富士通研究所
異常GI-SAXSによる埋めこまれたGeナノドットのRTA処理に伴う構造変化の解明 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,478KB
奥田 浩司       京都大学 国際融合想像センター
アイソタクティックポリプロピレン射出成型物表面のナノ構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,478KB
里見 倫明       株式会社 三菱化学科学技術センター
テーマN3 新機能ナノ材料の光電子分光、磁気円二色性測定 (BL25SU)
貴金属で挟まれた鉄単原子層における磁区構造と磁気状態 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出924KB
今田 真        大阪大学大学院 基礎工学研究科
軟X線MCDによる希土類金属内包フラーレンの元素選択磁化解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,207KB
篠原 久典       名古屋大学
Au(788)微傾斜表面上の遷移金属ナノ構造における磁気構造 II ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,268KB
川合 真紀       理化学研究所
立方体形状FePtナノ微粒子の磁気的特性の軟X線磁気円二色性による研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,371KB
山本 真平       京都大学 化学研究所
Al/Si(111)表面上のCoナノ量子ドットの磁性研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,371KB
木村 昭夫       広島大学大学院 理学研究科
Adobe Readerのダウンロード研究成果報告書を見るためにはAdobe Readerが必要です