X線スペクトロスコピー利用研究会

日 時 2023年8月2日(水) 16:00 - 18:00
会 場 オンライン
主 催 SPRUC X線スペクトロスコピー利用研究会
概 要 放射光を利用したX線スペクトロスコピー(X線吸収分光法、蛍光X線分光法など)は、固体物性、材料・デバイス開発、触媒科学、環境科学、地球科学などの非常に幅広い分野における汎用性の高い研究分析ツールとして、産学界の多くの研究者に利用されている。高いエネルギー・時間・空間分解能計測法や他の計測技術と組み合わせた新しい同時計測法といった計測技術の開発や、膨大なデータを高速処理可能な新しい解析技術の開発が進められており、先端的な研究利用が進められている。しかし、それら計測技術や解析技術の利用者への普及は十分ではないのが現状である。一方で、現在SPring-8ではビームラインの再編が進行・計画されておりX線分光関係BLの再編が進行している。そこで本研究会では、研究分野の異なる講師の先生方にX線スペクトロスコピーの最新技術や実際の材料への応用展開を講演いただきX線スペクトロスコピーを用いた研究の推進と拡大を図るとともに、ビームラインの現状と再編・アップグレードの進捗について情報共有しSPring-8の汎用XAFSビームラインの将来計画について議論する。
[ プログラム ]
16:00-16:05 『開会挨拶と趣旨説明』
16:05-16:40 『複合酸化物セラミックス不規則化のXAFS構造解析』 吉岡 聰 (九州大学)
16:40-17:15 『電気化学デバイスのオペランド計測と今後の期待』 内山 智貴 (東北大学)
17:15-17:30 『ビームラインの現状と再編・アップグレードの進捗について』
17:30-18:00 『全体ディスカッション』

[ 研究会担当者の連絡先 ]
大山 順也(熊本大学): ohyama [at] kumamoto-u.ac.jp