2009年9月2日(水) 15時-18時20分　（懇親会　18:30-20:00)

九州大学東京オフィス
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　アクセス

15:00-15:05

挨拶　　高原 淳/九州大学先導物質化学研究所(研究会代表）

15:05-15:50

講演　「室温イオン液体表面のダイナミクスと物性評価」
　　　　星野大樹*、大政義典、八尾誠/京都大学大学院理学研究科
　　　　*現所属：JST/ERATO高原ソフト界面プロジェクト

15:50-16:35

講演　「エネルギーフィルターTEMによる高分子表面・界面の解析」
　　　　堀内　伸/(独)産業技術総合研究所

16:35-16:50

休　憩

16:50-17:35

講演　「Ｘ線位相計測によるシリコン中のひずみの測定」
　　　　矢代 航/東京大学大学院新領域創成科学研究科

17:35-18:20

講演　「XAFSの基礎と先端計測手法」
　　　　宇留賀 朋哉/(財)高輝度光科学研究センター

18:30-20:00

懇親会