| 13:00-13:05 |
あいさつ 高橋 功（関学大） |
| 13: 05-13:25 |
MgO基板表面上のCr薄膜からのRHEED（２） 阪上 潔（関学大） |
| 13:25-13:45 |
The effect of microstructure of polyoctylfluorene thin film on its photoluminescence Zhang Jidong (Changchun Institute of Applied Chemistry) |
| 13:45-14:05 |
電極表面と弱く相互作用した吸着種の構造 中村 将志（千葉大） |
| 14:05-14:25 |
多波回折を利用したシリコン酸化膜／シリコン界面下のひずみの測定 ― 深さ方向分布の定量解析 矢代 航（東大） |
| 14:25-14:45 |
圧電体の時間分解XRDおよび電気特性の同時測定 舟窪 浩（東工大） |
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| 14:45-15:00 |
休憩 |
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| 15:00-15:20 |
β-FeSi2/Si(001)熱反応堆積成長のその場X線回折:α-FeSi 2相の成長と消滅 花田 貴（東北大） |
| 15:20-15:40 |
酸化物表面のX線回折：酸化チタンの触媒反応機構を解明す るための表面構造解析からのアプローチ 田尻 寛男（JASRI） |
| 15:40-15:50 |
CREST予算で導入したピクセル検出器の現状 山中 宏晃（JASRI, 兵庫県立大） |
| 15:50-16:00 |
マイクロ回折計＋CCD検出器による逆格子マップの迅速測定の現状 木村 滋（JASRI） |
| 16:00-16:10 |
ビームラインの現状、高度化の可能性について 坂田修身（JASRI） |
| 16:10-16:50 |
討論：SPring-8施設側への要望や質問など（司会 坂田修身） |
| 16:50-16:55 |
おわりに 吉本 護（東工大） |