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| プログラム | ||||||
| 1．はじめに 飯田 敏（富山大学），5分 2．参加者の自己紹介 参加者全員，20分 3．気相法有機単結晶の構造評価 城 貞晴（山口東京理科大学）15分＋5分 4．伝導性チタン酸ストロンチウムの自発歪 尾崎 徹（広島工業大学）15分＋5分 5．共鳴散乱を利用するトポグラフ 根岸 利一郎（埼玉工業大学）15分＋5分 6．白色Ｘ線トポ・トモグラフィ的手法による単結晶評価（ZnTeや有機強磁性結晶） 水野 薫（島根大学）15分＋5分 休憩14:45-15:00 7．ステップスキャニングセクショントポグラフィによるSi転位の3次元分布 梶原 堅太郎（JASRI）15分＋5分 8．硬X線イクロビーム回折イメージングによるSiの微小欠陥観察 川戸 清爾（九州シンクロトロン光研究センター）15分＋5分 9．マイクロビームX線3Dトポグラフィ 田沼 良平 (富士電機アドバンストテクノロジー(株))15分＋5分 10．SiCのトポグラフィ（仮題） 山口 聡（豊田中央研究所）15分＋5分 11．材料/デバイス研究者のツールとしてのＸ線トポグラフ考 山口博隆（産業技術総合研究所）15分＋5分 休憩16:40-16:50 12．総合討論 全員 30分 ・ トポグラフィBLの現状，重点産業利用枠の利用，梶原（JASRI） ・ SPring-8, BL28B2，評価を終えて，今後の5年 ・ PFのトポグラフィBLの現状，水野，橘，山口，志村 |
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