13:00-18:00
1．はじめに，
　　　飯田　敏（富山大学），5分
2．参加者の自己紹介，
　　　参加者全員，20分
3．BL28B2の現状，
　　　梶原　堅太郎（JASRI）15分＋5分
4．トポグラフィ関連のBLの改造計画（案）への対応，
　　　志村　考功（大阪大学）15分＋30分

休憩14:30-14:50

5．レジスト利用Ｘ線トポグラフィで転位周りのひずみ場を見る，
　　　松井　純爾（兵庫県放射光ナノテク研究所）15分＋10分
6．非対称反射アナライザーを用いたチタン中の水素化物濃度の直接決定，
　　　水野　薫（島根大学）15分＋10分
7．歪みシリコンウェーハのX線トポグラフ　，
　　　志村考功（大阪大学）15分＋10分
8．Ｘ線と中性子トポグラフの共用について，
　　　小島謙一（横浜創英短期大学)15分＋10分

休憩16:30-16:50

9．総合討論，全員　60分
　　　　BLの改造計画（案）への対応（つづき）
　　　　SPring-8, X線トポグラフィ，今後の10年（十周年記念出版について）
　　　　PFのトポグラフィBLの現状，ESRFやAPSのトポグラフィの現状
　　　　10月の研究会のテーマ
10． まとめ　10分