多様なビームラインで広範な研究活動
ビームラインマップ｜ビームラインの利用形態｜研究に利用されているビームライン
ビームラインマップ
稼働中、建設中または計画中のビームラインの名称、種類、その配置を下図に示します。ビームラインの長さは、通常は光源から最大80ｍですが、他に250ｍ、1,000ｍのものが設置可能なように設計されています。
（*）PDF版ビームラインマップは印刷や拡大表示に適しています。
ビームラインの利用形態
SPring-8には、ビームライン62本の設置が可能であり、そのうち赤外光ビームライン1本を含む53本が稼働しています。
ビームラインは利用形態によって次のように分類されます。
●共用ビームライン:理研が建設し、国内外の研究者が共同で利用
●専用ビームライン:外部機関が自前で建設し、専有して利用
●理研ビームライン:理研が建設し、独自研究に利用
●加速器診断ビームライン
| 区分 | 共用 | 専用 | 理研 | 加速器診断 | 合計 |
| 稼働中 | 26 | 17 | 8 | 2 | 53 |
| 計画・調整・建設中 | 0 | 3 | 1 | 0 | 4 |
| 合計 | 26 | 20 | 9 | 2 | 57 |
研究に利用されているビームライン
各ビームラインには、それぞれの利用研究分野に適した光源、X線のエネルギー領域などが設定されています。
研究に利用されている共用、専用などのビームラインの概要は次の通りです。
共用ビームライン（26本）
実験ハッチ内には基本的な実験装置が設置されています。
| ビームライン名称 | ビーム ライン No. |
光 源 | Ｘ線エネルギー | 研究手法・研究分野 |
|---|---|---|---|---|
| XAFS | BL01B1 | 偏向電磁石 | 3.8 〜 113 keV | XAFS（非晶質固体、液体、薄膜及び希薄試料の局所原子配置と電子構造の解析） |
| 単結晶構造解析 | BL02B1 | 偏向電磁石 | 5 〜 115 keV | 無機・有機単結晶のＸ線回折（構造物性研究、微小な構造変化測定、化学反応） |
| 粉末結晶構造解析 | BL02B2 | 偏向電磁石 | 12 〜 35 keV | 粉末結晶のX線回折（先端材料の精密電子密度分布、構造相転移） |
| 高温高圧 | BL04B1 | 偏向電磁石 | 20 〜 150 keV | 高温高圧X線回折（構造相転移、構造解析）、ラジオグラフィー |
| 高エネルギーX線回折 | BL04B2 | 偏向電磁石 | 37.8 keV 61.7 keV |
X線回折（高圧下の結晶構造、非晶質固体・液体の局所構造、相転移点近傍での構造ゆらぎ） |
| 高エネルギー非弾性散乱 | BL08W | ウィグラー | 100 〜 300 keV | コンプトン散乱（フェルミ面近傍の電子構造）、磁気コンプトン散乱（磁性電子構造）、重元素の蛍光X線分析 |
| 核共鳴散乱 | BL09XU | アンジュレータ | 6.2 〜 100 keV | 時間領域メスバウア分光、核共鳴非弾性散乱、応力測定、表面研究 |
| 高圧構造物性 | BL10XU | アンジュレータ | 18 〜 35 keV | 極端条件下（高圧・高温・極低温）のX線回折 |
| 表面界面構造解析 | BL13XU | アンジュレータ | 7 〜 32 keV | 研究手法：X線回折、微小角X線回折、CrystalTruncationRod散乱測定、反射率測定、その場観察研究分野：薄膜構造（厚さ数ナノ 〜 ）、ナノ構造、表面構造（吸着構造、相転移）、溶液中の固体表面構造、埋もれた構造） |
| 産業利用II | BL14B2 | 偏向電磁石 | 3.8 〜 72 keV | XAFS（希薄・薄膜試料の局所原子配置と電子構造の解析） |
| 産業利用I | BL19B2 | 偏向電磁石 | 3.8 〜 72 keV | XAFS、X線反射法、歪み解析、薄膜構造評価、粉末回折、イメージング |
| 医学・イメージングII | BL20XU | アンジュレータ | 7.62 keV 〜 113 keV | マイクロビーム、Ｘ線顕微鏡、マイクロトモグラフィー、コヒーレントＸ線光学、極小角散乱 |
| 医学・イメージングI | BL20B2 | 偏向電磁石 | 5 〜 113 keV | イメージング技術（マイクロトモグラフィ、屈折コントラスト法など）の開発とその医学利用 |
| 軟Ｘ線固体分光 | BL25SU | アンジュレータ | 0.22 〜 2 keV | 光電子分光、光電子回折、光電子ホログラフィ、磁気円二色性（電子状態、固体磁気特性）、光電子顕微鏡 |
| 軟Ｘ線光化学 | BL27SU | アンジュレータ | 0.17 〜 2.8 keV | 吸収分光、光電子分光、イオン分光、発光分光(原子・分子科学、光化学、固体電子物性)、照射実験(材料創製) |
| 白色X線回折 | BL28B2 | 偏向電磁石 | 〜 5 keV | 白色X線トポグラフィ（結晶成長過程、格子欠陥、相転移）、マイクロアンギオグラフィ、エネルギー分散型時分割XAFS |
| 高分解能非弾性散乱 | BL35XU | アンジュレータ | 8 〜 50 keV | X線非弾性散乱、核共鳴散乱 |
| 分光分析 | BL37XU | アンジュレータ | 5 〜 37 keV 75.5 keV |
微小領域元素分析、極微量分析、状態分析、蛍光X線ホログラフィー、高エネルギー蛍光X線分析、高感度XAFS |
| 構造生物学III | BL38B1 | 偏向電磁石 | 6.5 〜 17.5 keV | 構造生物学、タンパク質のルーチン結晶構造解 |
| 磁性材料 | BL39XU | アンジュレータ | 5 〜 38 keV | X線磁気円二色性、X線磁気散乱、元素を特定した磁化測定、X線磁気顕微測定 |
| 高フラックス | BL40XU | アンジュレータ | 8 〜 17 keV | 生物学・物質科学での時分割小角散乱・回折、時間相関分光（スペックルパターン）、蛍光X線分析 |
| 構造生物学II | BL40B2 | 偏向電磁石 | 6 〜 17.5 keV | 非結晶生体材料のX線小角散乱 |
| 構造生物学I | BL41XU | アンジュレータ | 6.5 〜 17.5 keV, 19 〜 37 keV | タンパク質結晶のX線構造解析（タンパク質結晶学、X線構造生物学） |
| 赤外物性 | BL43IR | 偏向電磁石 | 10 meV 〜 2eV | 赤外顕微分光、赤外表面科学、赤外吸収・反射分光、赤外磁気光学 |
| 産業利用III | BL46XU | アンジュレータ | 12 〜 25 keV | 挿入光源の開発、共鳴・非共鳴磁気散乱技術 |
| 光電子分光・マイクロCT | BL47XU | アンジュレータ | 5.2 〜 37.7 keV | 光電子分光、マイクロトモグラフィー、X線イメージング技術開発 |
専用ビームライン、理研ビームライン、加速器診断（27本）
ビームライン名称 |
ビームラインNo. |
光 源 |
Ｘ線エネルギー |
研究手法・研究分野 |
|---|---|---|---|---|
| フロンティアソフトマター開発産学連合 | BL03XU | アンジュレータ | 6 〜 35 keV | 微小角入射小角X線散乱、微小角入射広角X線散乱、X線回折、X線反射率測定 、透過型小角・広角X線散乱測定、時間分割小角・広角X線散乱同時測定 |
| 東京大学放射光アウトステーション物質科学 | BL07LSU | 27mアンジュレータ | 0.25 〜 2 keV | 時間分解分光、ナノビーム光電子分光、超高分解能軟X線発光分光、3次元走査型光電子顕微鏡 |
| 兵庫県BM | BL08B2 | 偏向電磁石 | 4.6 〜 70 keV | XAFS、X線小角散乱、トポグラフィ、イメージング、粉末回折、Ｘ線反射率 |
| 兵庫県ID | BL24XU | アンジュレータ | 5 〜 60 keV | 無機物質の表面・界面解析、X線マイクロビーム分析、X線イメージング、タンパク質結晶構造解析 |
| NSRRCID | BL12XU | アンジュレータ | 4.5 〜 25 keV | 高分解能Ｘ線非弾性散乱、高分解能Ｘ線共鳴非弾性・ラマン散乱、共鳴X線発光分光、高Ｑ分解能X線散乱、Ｘ線物理学・光学 |
| NSRRCBM | BL12B2 | 偏向電磁石 | 5 〜 90 keV | X線吸収分光、タンパク質結晶構造解析、高Q分解能X線散乱、粉末X線回折 |
| 広エネルギー帯域先端材料解析 | BL15XU | アンジュレータ | 10 〜 20 keV, 0.5 〜 60 keV | 粉末X線回折、X線光電子顕微鏡、角度分解光電子分光 |
| サンビームID | BL16XU | アンジュレータ | 4.5 〜 40 keV | Ｘ線回折、蛍光Ｘ線分析とＸ線マイクロビーム分析／産業用材料の評価解析 |
| サンビームBM | BL16B2 | 偏向電磁石 | 4.5 〜 113 keV | XAFSとＸ線トポグラフィ／産業用材料の評価解析 |
| 創薬産業 | BL32B2 | 偏向電磁石 | 7 〜 17 keV | ドラッグデザインを目的としたタンパク質結晶構造解析 |
| 豊田 | BL33XU | アンジュレータ | 4.5 〜 45 keV | 時間分解XAFS／自動車関連材料の評価解析 |
| レーザー電子光 | BL33LEP | 逆コンプトン散乱 | 1.5 〜 2.4GeV | 光核反応、偏極ガンマ線ハドロン分光、ファイメソン検出 |
| 生体超分子複合体構造解析 | BL44XU | アンジュレータ | 7.6 〜 21 keV | 生体巨大分子複合体のX線結晶構造解析 |
| JAEA 量子ダイナミクス | BL11XU | アンジュレータ | 6 〜 70 keV | メスバウア分光、XAFS、非弾性X線分光、表面解析 |
| JAEA 物質科学 | BL14B1 | 偏向電磁石 | 5 〜 90 keV, 5 〜 150 keV | 物質科学における構造解析（高圧・高温実験、表面・界面構造研究） |
| JAEA 量子構造物性 | BL22XU | アンジュレータ | 3 〜 70 keV | 高圧発生装置を用いた高圧物性研究、共鳴Ｘ線回折実験、残留応力測定 |
| JAEA 重元素科学 | BL23SU | アンジュレータ | 0.4 〜 2 keV | 放射性材料の軟X線分光、表面光化学、生物学的放射線効果 |
| 理研 物理科学III | BL17SU | アンジュレータ | 0.3 〜 1.8 keV | 高分解能軟Ｘ線吸収分光、高分解能光電子分光、軟Ｘ線発光分光、多価イオン分光 |
| 理研 物理科学II | BL19LXU | 25mアンジュレータ | 7.2 〜 18 keV 22 〜 51 keV |
Ｘ線非線形光学、コヒーレントX線光学、高時間分解Ｘ線回折、磁気散乱 |
| 理研 構造ゲノムI | BL26B1 | 偏向電磁石 | 6.5 〜 17.5 keV | ハイスループット・タンパク質結晶構造解析 |
| 理研 構造ゲノムII | BL26B2 | 偏向電磁石 | 6.5 〜 17.5 keV | ハイスループット・タンパク質結晶構造解析 |
| 理研 物理科学I | BL29XU | アンジュレータ | 4.4 〜 37.8 keV | コヒーレントX線光学 |
| 理研ターゲットタンパク | BL32XU | アンジュレータ | 8 〜 20 keV | 構造生物学、生体高分子X線結晶構造解析、超微小蛋白質結晶構造解析 |
| 理研 構造生物学II | BL44B2 | 偏向電磁石 | 6 〜 18 keV | 単色X線での生体高分子結晶構造解析 |
| 理研 構造生物学I | BL45XU | アンジュレータ | 6.8 〜 14 keV | トリクロマチックMAD法による生体高分子結晶構造解析、生体材料の溶液散乱と繊維回折 |
| 加速器診断 | BL05SS | アンジュレータ | - | 加速器科学、加速器ビーム診断、加速器コンポーネントのR&D、MeVγ線光子の生成 |
| 加速器診断 | BL38B2 | 偏向電磁石 |
- |
加速器科学、加速器ビーム診断、加速器コンポーネントのR&D、MeVγ線光子の生成 |