問い合わせ番号

INS-0000000402

XAFS測定システムの概要

XAFS測定用の装置類は、実験ハッチ内の実験定盤上に配置されています。測定装置は、検出器類、クライオスタット、電気炉、実験定盤、スリットなどからなります[1]。試料位置での放射光の高さは、上流のミラーの傾き角に依存して最大250 mm上下します。これに追随するため、実験定盤の高さはパルスモーターで最適な位置に自動調整され、計測機器全体が一度に放射光の高さに合わせられます。

実験定盤上のXAFS測定システム

検出器

• イオンチェンバー
• ライトル検出器
• 19素子Ge検出器
• 転換電子収量検出器

詳細は各検出器のページを参照のこと

試料温度調整器類

• 水冷機構付き電気炉（カプトン窓付き）
  • 温度調整範囲： 295 ～ 1070 K
• マッフル炉（カプトン窓付き）
  • 温度調整範囲： 295 ～ 1870 K
• クライオスタット（カプトン窓付き）
  • 温度調整範囲： 10 ～ 300 K
  • 安定性 ～ ± 0.1 K
  • 冷却パワー： 8 W (2nd stage @20 K)

ステージ類

• θ-2θステージ（Zステージ付き）
  • 最小送り量 θ : 0.005 arcsec/pulse, 2θ : 0.002 deg/pulse
• 実験定盤の上下移動ステージ
  • 定盤サイズ : 1.2 × 2 m²
  • ストローク : 250 mm
  • 最小送り量 : 0.5 µm/pulse
• スリット
  • ステッピングモーター駆動ブレード : タンタル製、3 mm厚
  • ストローク : ± 10 mm
  • 最小送り量 : 2 µm/pulse

計測機器類

NIMビン電源、 高圧電源、電流アンプ、2ch ローパスフィルター、VFコンバーター、4chカウンター、スペクトロスコピーアンプ、SCA、MCA他

参考文献

1. T. Uruga, H. Tanida, Y. Yoneda, K. Takeshita, S. Emura, M. Takahashi, M. Harada, stextY. Nishihata, Y. Kubozono, T. Tanaka, T. Yamamoto, H. Maeda, O. Kamishima, Y. Takabayashi, Y. Nakata, H. Kimura, S. Goto, and T. Ishikawa, J. Shynchrotron Rad. 6, 143 (1999).