大型放射光施設 SPring-8

問い合わせ番号

SOL-0000001256

ビームライン

BL01B1（XAFS I）

学術利用キーワード

A. 試料	無機材料
B. 試料詳細	金属・合金, 非晶質、ガラス
C. 手法	吸収、及びその二次過程
D. 手法の詳細	XAFS, EXAFS, XANES
E. 付加的測定条件	偏光（直線）, 室温
F. エネルギー領域	Ｘ線（>40 keV）
G. 目的・欲しい情報	化学状態, 結合状態, 分子構造, 局所構造

産業利用キーワード

階層1	ディスプレイ, 電池, 化学製品, 工業材料
階層2	触媒
階層3	TFT
階層4	局所構造, 電子状態, 化学状態
階層5	XAFS, NEXAFS

分類

A80.30 無機材料, M40.10 XAFS

利用事例本文

本事例では金属内包フラーレンLa₂@C₈₀に対してLa-K吸収端におけるXAFS測定を行い、局所構造解析を行いました。EXAFS解析からは、目的元素の周囲の局所構造（近接原子間の距離、配位数、原子種）に関する情報が得られます。また、XANES解析からは、目的元素の電子構造（価数、近接原子種）に関する情報が得られます。解析の結果、+3価のLaがC₈₀ケージ内で図のような2核体で存在することが分かりました。

図　La₂@C₈₀のモデル構造

[ Y. Kubozono, Y. Takabayashi, S. Kashino, M. Kondo, T. Wakahara, T. Akasaka, K. Kobayashi, S. Nagase, S. Emura and K. Yamamoto, Chemical Physics Letters 335, 163-169 (2001), Fig. 3,
©2001 Elsevier B. V. ]

画像ファイルの出典

原著論文/解説記事

誌名

Y. Kubozono et al., Chem. Phys. Let, 335, (2001) 163

図番号

3

測定手法

濃度の比較的高い試料に対するXAFSスペクトルは、目的元素の吸収端付近で、試料によるX線吸収量をX線エネルギーの関数として測定することで得られます（透過XAFS法）。周期律表のSnからEu付近までの元素では、L3吸収端よりもK吸収端で計測する方がメリット（高空間分解能データ、多電子励起の影響が小など）があります。QXAFSモードで計測すると計測時間は、1測定あたり10-15分程度です。

図　透過法XAFSの装置配置

画像ファイルの出典

私信等、その他

詳細

講習会プレゼン資料

測定準備に必要なおおよその時間

2 時間

測定装置

装置名	目的	性能
XAFS測定装置	XAFSスペクトルの計測	3.8-113 keV
イオンチェンバー	透過法XAFSの測定	濃度：1000 ppm以上

参考文献

文献名
Y. Kubozono et al., Chem. Phys. Let, 335, (2001) 163.

関連する手法

アンケート

SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている

測定の難易度

初心者でもOK

データ解析の難易度

中程度

図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数

1シフト以下