クイックXAFS（QXAFS）
問い合わせ番号
SOL-0000001257
ビームライン
BL01B1（XAFS I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金 |
| C. 手法 | 吸収、及びその二次過程 |
| D. 手法の詳細 | XAFS, EXAFS, XANES |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（直線）, 時分割（比較的遅い）, 室温 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 化学状態, 局所構造, 機能構造相関 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 半導体, 電子部品, ディスプレイ, 記憶装置, 電池, 機械, 金属, 建設, 環境, 化学製品, 工業材料 |
|---|---|
| 階層2 | 化合物半導体, コンデンサー, LCD, PDP、FED, HD、MO, CD-R、DVD, 二次電池、太陽電池, 燃料電池, 触媒, 繊維, 環境物質, 日用品（シャンプー,化粧品,歯磨き粉など） |
| 階層3 | 蛍光体, 磁性層, 電極, 焼却灰, タンパク質 |
| 階層4 | 局所構造, 電子状態, 価数, 化学状態 |
| 階層5 | XAFS, NEXAFS |
分類
A80.20 金属・構造材料, A80.30 無機材料, A80.32 有機材料, A80.34 触媒化学, M40.10 XAFS
利用事例本文
XAFS法は、結晶及び非結晶の試料に対して、目的元素の周囲の局所構造（近接原子間の距離、配位数、原子種）や、電子構造（価数、近接原子種）を解析できる強力な手法です。クイックXAFS（QXAFS）法は、高速にXAFSデータを計測する測定手法です。BL01B1では現在、透過法XAFS測定のほとんどがQXAFS法で行われており、3-15分（従来法の1/2-1/5）で高質なデータ計測が可能です。また、数秒から数十秒の時間分解能で時分割QXAFS測定が可能です。QXAFSは、エネルギー分散型XAFS（DXAFS）と異なり、蛍光法および転換電子収量法にも適用できる点に利点があります。
図 PdフォイルのPd K吸収端XAFSスペクトルから抽出したEXAFS振動の比較。
（ ）内は計測時間。Step scanは従来法を指す。
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
第7回XAFS討論会予稿集
測定手法
QXAFS法では、分光器を連続的にスキャンしXAFSデータを計測します。機械的な最小時間分解能は分光器の最高スキャン速度により決まりますが、実際の時間分解能は得られた測定データの質を判断して決めます。
図 透過法QXAFSにおける制御の流れ
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
研究会プレゼン資料
測定準備に必要なおおよその時間
2 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| XAFS測定装置 | XAFSスペクトルの計測 | 3.8-113 keV |
| ライトル検出器 | 希薄・薄膜試料の蛍光XAFSの測定 | 濃度：1000 ppm以上、膜厚：10 nm以上 |
| 転換電子収量検出器 | 高濃度の薄膜試料のXAFS測定 | 測定膜厚：0.5nm以上 |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| 第7回XAFS討論会予稿集 |
関連する手法
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
同種実験は本ビームラインの課題の30%以上を占めている
最近2年以内に導入した装置を使った事例
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
初心者でもOK
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
1シフト以下