Inquiry number

INS-0000000407

　実験ハッチの下流側にはHUBER社製5020型の多軸回折計が設置されています（図1）。本装置は、χ、φ、ω、2θを持つ4軸回折計であり鉛直な散乱面（2θ縦振り）での回折実験が可能です。また、2θ軸には3軸のアナライザーユニット（図2）が脱着でき、通常のアナライザとしても偏光解析アナライザとしても使用することができます。回折計の制御にはSPEC（Certified Scientific Software社）を採用により共鳴散乱実験では、出射位置をほぼ変えることなくＸ線エネルギーの変更が可能でQ値固定のエネルギースキャンが行なえます。BL02B1では、本装置の検出器としてNaI(Tl)シンチレーションカウンタが用意されています。本装置は、汎用的な回折計であり高い自由度を持っていますが、実験の実施が困難な場合もあるので申請前にビームライン担当者への問い合わせを推奨します。

図１　多軸回折計．

図２　３軸アナライザユニット．

参考文献

1. Y. Noda, T. Shobu, Y. Kuroiwa, K. Akiyama, M. Kunikata: SPring-8 user report #1997A-0027.
2. Y. Noda, T. Shobu, K. Iwasa and M. Kohgi: SPring-8 user report #1999A-0398.
3. Y. Kuroiwa, S. Aoyagi, T. Shobu, K. Nozawa, S. Tsunekawa and Y. Noda: Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 38 (1999) Suppl. 38-1, pp. 600-603.