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高分解能X線CTとSEM/EBSP結晶方位解析の援用による粒界性格の解明

  • Spring8ならでは

利用事例本文

高分解能X線コンピュータ・トモグラフィー法は材料内部を非破壊で三次元的に見ることのできる方法です。X線CT結果に対して,元素によって異なるX線の質量吸収係数を利用することで,それらの質量比,すなわち,濃度を測定することができます。図に示すのは,粒界にGaを含浸させた6061アルミニウム合金の表面におけるX線CT観察のGa濃度分布(図(a))とSEM/EBSP結晶方位マッピング(図(b))との対応です。Ga濃度は高い粒界エネルギーを持つ方位差の大きな粒界部分でのみ高く,その粒界性格依存性が分かりました。

学術利用キーワード

A. 試料 無機材料
B. 試料詳細 金属・合金, 結晶性固体
C. 手法 吸収、及びその二次過程
D. 手法の詳細
E. 付加的測定条件 三次元画像計測(CT等), 界面, 室温, 時分割(比較的遅い)
F. エネルギー領域 X線(4~40 keV)
G. 目的・欲しい情報 局所構造, 欠陥、転位、歪み, 構造変化, 形態・巨視的構造

産業利用キーワード

階層1 機械, 金属, 工業材料
階層2 構造材(鉄、非鉄)
階層3
階層4 亀裂、空隙, 内部構造, 形態
階層5 イメージング

問い合わせ番号

SOL-0000001699

最終変更日 2011-07-28 13:23
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