高分解能X線CTとSEM/EBSP結晶方位解析の援用による粒界性格の解明
利用事例本文
高分解能X線コンピュータ・トモグラフィー法は材料内部を非破壊で三次元的に見ることのできる方法です。X線CT結果に対して，元素によって異なるX線の質量吸収係数を利用することで，それらの質量比，すなわち，濃度を測定することができます。図に示すのは，粒界にGaを含浸させた6061アルミニウム合金の表面におけるX線CT観察のGa濃度分布(図(a))とSEM/EBSP結晶方位マッピング(図(b))との対応です。Ga濃度は高い粒界エネルギーを持つ方位差の大きな粒界部分でのみ高く，その粒界性格依存性が分かりました。
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金, 結晶性固体 |
| C. 手法 | 吸収、及びその二次過程 |
| D. 手法の詳細 | |
| E. 付加的測定条件 | 三次元画像計測（ＣＴ等）, 界面, 室温, 時分割（比較的遅い） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 局所構造, 欠陥、転位、歪み, 構造変化, 形態・巨視的構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 機械, 金属, 工業材料 |
|---|---|
| 階層2 | 構造材（鉄、非鉄） |
| 階層3 | |
| 階層4 | 亀裂、空隙, 内部構造, 形態 |
| 階層5 | イメージング |
問い合わせ番号
SOL-0000001699
最終変更日
2022-05-09 15:51