| テーマN1 磁気記憶材料等の元素別磁化測定 （BL39XU） |
| 磁気記録媒体別FePtナノパーティクルのXＭＣＤ測定 |
 1,176KB |
| 淡路 直樹 株式会社 富士通研究所 |
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| マンガン分子ナノ磁石のMnK-吸収端X線磁気円二色性の研究 |
1,808KB |
| Subías-Peruga, Garcia CSIC Universidad de Zariagoza |
硬X線磁気円二色性分光測定による
光磁気記録材料CoxTb100-xアモルファス薄膜のスペリ磁性の研究 |
1,547KB |
| 安居院 あかね 日本原子力研究所 |
| Nano-XAFS実験技術の開発：硬X線を用いた光電子顕微鏡（HXPEEM）の新たな利用法 |
2,015KB |
| 小嗣 真人 広島大学 放射光科学研究センター |
| テーマN2
半導体等ナノ薄膜の表面・界面構造解析 （BL13XU） |
| 微小領域逆格子マッピングによる歪Si/SiGe/Siヘテロ構造の局所的歪揺らぎの検出 |
1,603KB |
| 酒井 朗 名古屋大学大学院 工学研究科 |
ナノサイズアルミニウム配線の
エレクトロマイグレーション誘起ひずみのアスペクト依存性 |
1,233KB |
| 英 崇夫 徳島大学 工学部 |
| 半導体単結晶ナノロッド配列の自己組織形成と結晶構造評価 |
2,126KB |
| 新宮原 正三 関西大学 工学部 |
| 視斜角入射X線回折(GIXD)による有機超薄膜の二次元相転移現象の解析 |
1,715KB |
| 高原 淳 九州大学 先導物質化学研究所 |
| テーマN3
新機能ナノ材料の光電子分光、磁気円二色性測定（BL25SU） |
| 磁気ヘッド用FeCo/Pd超格子膜のXMCD測定 |
1,029KB |
| 淡路 直樹 株式会社 富士通研究所 |
| Mn3Ir/Co-Fe積層膜の巨大交換磁気異方性と反強磁性スピンの磁化過程との相関 |
1,876KB |
| 角田 匡清 東北大学大学院 工学研究科 |
| 軟X線MCDによる希土類金属内包フラーレンの高感度磁化解析 |
1,900KB |
| 篠原 久典 名古屋大学 理学部 |
| 光電子顕微鏡によるマンガン酸化物薄膜の相分離：電子・磁気状態のドメイン観察 |
2,457KB |
| 組頭 広志 東京大学大学院 工学系研究科 |
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