特定放射光施設ユーザー協同体(SpRUC)

X線発光・非弾性X 線散乱スペクトロスコピー研究会
研究分野 生命科学, 物質基礎, 物質応用, 計測
関連するビームライン                  
SPring-8 BL11XU, BL12XU, BL39XU, BL33XU, BL36XU, BL27SU, BL09XU, BL22XU
NanoTerasuBL02U, BL07U
研究会連絡先(問い合わせ窓口) 河村 直己
所属:高輝度光科学研究センター
Email: naochan (at) spring8.or.jp
研究会の概要、活動目標・目的

本研究会は、二次光学過程であるX線発光分光(XES)および非弾性X線散乱(IXS)計測を用いて、物質の電子状態を元素・軌道選択的に調べ、物性の発現機構の解明や機能性材料の性能向上を目指す研究者および学生会員で構成される。入射X線および発光・散乱X線の両方のエネルギーがパラメーターとなるXES/IXSでは、必要に応じて0.01〜1 eV程度の高いエネルギー分解能で分光を行い、計測吸収端の活用の有無と併せて様々な分光法が存在する。占有軌道の電子状態を知るXESのほか、内殻正孔寿命幅を抑制した高分解能のX線吸収スペクトルが得られる高エネルギー分解能蛍光検出X線吸収分光(HERFD-XAS)、マグノンやフォノンなどの物質の素励起が観測できる共鳴非弾性X線散乱(RIXS)などが該当し、これらは広く普及している通常のX線吸収分光(XAS)とは異なる特長を持つ。XES/IXSは、第三世代放射光による高輝度光源の出現・発展とともに飛躍的に進展し、基礎物性、触媒科学、生命科学、地球科学、環境科学、材料・デバイス開発などの産業分野を含む幅広い分野での利用が期待される。
第5?7期には、SPring-8での硬X線を利用したXES/IXSを中心に、計測手法や解析技術の普及、技術開発や利用成果についての情報交換を行った。NanoTerasuが共用を開始したことを踏まえ、第8期には対象を広げて軟X線のXES/IXSについても扱うこととし、SPring-8およびNanoTerasuを活用した先端的研究の実施を目指して、以下の活動を推進する。