2012年前期実施課題2012A一覧：時期指定課題
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| S/N | 課題番号 | 実験課題名 | 実験責任者 | 実施時所属 | 国名 | 所属分類 | 研究分野 | 実施 シフト |
ビームライン | 専有 /非専有 |
| 1 | 2012A1712 | 硬X線光電子分光による透明アモルファス半導体IGZOの価電子帯評価 | 堀内 諭史 | （財）材料科学技術振興財団 | 日本 | 国公立研究機関等 | 物質科学・材料科学 | 3 | BL47XU | 専有 |
| 2 | 2012A1797 | 半導体材料のX線回折測定 | 高石 理一郎 | （株）東芝 | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 3 | BL46XU | 専有 |
| 3 | 2012A1819 | 硬Ｘ線光電子分光による有機ナノ材料の化学結合状態解析 | 渡辺 義夫 | 慶應義塾大学 | 日本 | 大学等教育機関 | 物質科学・材料科学 | 1 | BL46XU | 専有 |
| 4 | 2012A1820 | 軟X線光電子分光を用いたSiO2/SiC界面の解析 | 森 大輔 | 富士電機（株） | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 2 | BL25SU | 専有 |