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2016年後期実施課題2016B一覧：測定代行課題

問い合わせ先：利用推進部　TEL 0791-58-0961　E-mail: sp8jasri@spring8.or.jp

S/N 課題番号 実験課題名 実験責任者 実施時所属 国名 所属分類 研究分野 実施シフト ビームライン 専有/非専有
1 2016B1820 複合酸化物のXAFS測定 辰田 和穂 旭化成ケミカルズ（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL14B2 専有
2 2016B1821 鉄粉表面に吸着した重金属元素のXAFS測定 稲葉 雅之 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.5 BL14B2 専有
3 2016B1822 フィルムのXAFS測定 井澤 一欽 京セラ（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL14B2 専有
4 2016B1823 高効率の蛍光を示す新規フツホウ酸ガラスの構造解析 篠崎 健二 産業技術総合研究所 日本 国公立研究機関等 産業利用 0.25 BL14B2 専有
5 2016B1824 非結晶材料のX線散乱測定 種子田 賢宏 住友電気工業（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL19B2 専有
6 2016B1825 リチウムイオン電池用正極活物質の粉末X線回折 岡田 治朗 住友金属鉱山（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL19B2 専有
7 2016B1826 粉末XRD測定 関 広美 京セラ（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL19B2 専有
8 2016B1828 イオン導電体の結晶構造解析 三井 昭男 トヨタ自動車（株） 日本 産業界 産業利用 0.5 BL19B2 専有
9 2016B1829 複合酸化物中Coの価数評価 稲葉 雅之 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.25 BL14B2 専有
10 2016B1830 放射光X線回折法による製剤中の微量結晶形分析 鍋谷 卓司 沢井製薬（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL19B2 専有
11 2016B1831 顔料中の微量異種結晶の測定 中野 正行 大日精化工業（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL19B2 専有
12 2016B1836 蛍光法によるX線吸収微細構造測定 小林 剛 電力中央研究所 日本 国公立研究機関等 産業利用 1.75 BL14B2 専有
13 2016B1898 半導体基板のHAXPES測定 小川 慎吾 （株）東レリサーチセンター 日本 産業界 産業利用 0.75 BL46XU 専有
14 2016B1899 磁性材料のEXAFS測定 稲葉 雅之 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.5 BL14B2 専有
15 2016B1900 電池負極材中金属のXAFS測定 稲葉 雅之 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.75 BL14B2 専有
16 2016B1905 高分子材料と高分子複合材料のナノ構造解析 仲摩 雄季 日本ゼオン（株） 日本 産業界 産業利用 0.5 BL19B2 専有
17 2016B1908 TiO薄膜のXAFS測定 田中 哲 東芝ナノアナリシス（株） 日本 産業界 産業利用 0.5 BL14B2 専有
18 2016B1910 小角散乱による階層構造を持つ材料の構造解析 坂本 直紀 旭化成ケミカルズ（株） 日本 産業界 産業利用 0.5 BL19B2 専有
19 2016B1911 固体電解質の結晶構造解析 山口 展史 出光興産（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL19B2 専有
20 2016B1912 三元系正極材のXAFS分析 高橋 真 JFEテクノリサーチ（株） 日本 産業界 産業利用 0.5 BL14B2 専有
21 2016B1913 溶液中PtおよびCoのXAFS測定（４） 横溝 臣智 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 1 BL14B2 専有
22 2016B1914 高温XRD 北原 周 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.5 BL19B2 専有
23 2016B1915 粉末高温XRD 北原 周 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.5 BL19B2 専有
24 2016B1916 PZT膜のXAFS測定 堀内 諭史 材料科学技術振興財団 日本 国公立研究機関等 産業利用 0.5 BL14B2 専有
25 2016B1917 ガラス中YbのXAFS測定（４） 稲葉 雅之 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.25 BL14B2 専有
26 2016B1919 XAFS測定 国須 正洋 （株）東レリサーチセンター 日本 産業界 産業利用 1 BL14B2 専有
27 2016B1921 鉄粉表面に吸着した重金属元素のXAFS測定（２） 稲葉 雅之 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.5 BL14B2 専有
28 2016B1922 電池材料中BrおよびIのXAFS測定 稲葉 雅之 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.75 BL14B2 専有
29 2016B1923 有機薄膜の2D-GIXD測定 稲葉 雄大 ソニー（株） 日本 産業界 産業利用 0.5 BL46XU 専有
30 2016B1924 有機薄膜の2D-GIXD測定 稲葉 雄大 ソニー（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL46XU 専有
31 2016B1925 ガラス（酸化物）のXAFSによる構造解析 谷田 肇 （株）日産アーク 日本 産業界 産業利用 0.25 BL14B2 専有
32 2016B1926 有機薄膜の結晶性評価 伊藤 博人 コニカミノルタ（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL46XU 専有
33 2016B1927 粉末ＸＲＤ測定 福田 一徳 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.25 BL19B2 専有
34 2016B1928 金属のＸ線回折測定 福田 一徳 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.25 BL19B2 専有
35 2016B1929 粉末の低温Ｘ線回折測定 福田 一徳 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.5 BL19B2 専有
36 2016B1930 Mg3Sb2系熱電材料の構造解析 菅野 勉 パナソニック（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL19B2 専有
37 2016B1931 非結晶材料などのX線散乱測定 斎藤 吉広 住友電気工業（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL19B2 専有
38 2016B1932 Ni基耐熱合金の小角散乱測定 長濱 大輔 （株）本田技術研究所 日本 産業界 産業利用 0.5 BL19B2 専有
39 2016B1935 溶液中PtおよびCoのXAFS測定（５） 横溝 臣智 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.5 BL14B2 専有
40 2016B1936 電極中遷移元素の価数評価 小川 雅裕 JFEテクノリサーチ（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL14B2 専有
41 2016B1937 土壌中のセシウムおよび関連元素の形態分析 高久 雄一 環境科学技術研究所 日本 国公立研究機関等 環境科学 0.75 BL14B2 専有
42 2016B1938 TiOx薄膜のXAFS測定-2 田中 哲 東芝ナノアナリシス（株） 日本 産業界 産業利用 0.75 BL14B2 専有
43 2016B1939 粉末XRD測定 関 広美 京セラ（株） 日本 産業界 産業利用 0.25 BL19B2 専有
44 2016B1940 微粒子分散液のUSAXS測定 大本 正幸 セイコーエプソン（株） 日本 産業界 産業利用 0.5 BL19B2 専有
45 2016B1941 複合酸化物中のNi,Mnの価数評価 森 拓弥 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.25 BL14B2 専有
46 2016B1943 ガラス中YbのXAFS測定（５） 稲葉 雅之 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.5 BL14B2 専有
47 2016B1945 鉄粉表面に吸着した重金属元素のXAFS測定（３） 稲葉 雅之 （株）コベルコ科研 日本 産業界 産業利用 0.25 BL14B2 専有
48 2016B1946 模擬ガラス中の添加元素等の構造測定 橋本 拓 （株）IHI 日本 産業界 産業利用 0.5 BL14B2 専有