2018年後期実施課題2018B一覧：時期指定課題
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| S/N | 課題番号 | 実験課題名 | 実験責任者 | 実施時所属 | 国名 | 所属分類 | 研究分野 | 実施 シフト |
ビームライン | 専有 /非専有 |
| 1 | 2018B2004 | リチウムイオン電池のイメージング測定 | 山重 寿夫 | トヨタ自動車（株） | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 12 | BL37XU | 専有 |
| 2 | 2018B2007 | 創薬のための低分子X線結晶構造解析 | 今吉 憲幸 | SAI（株） | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 0.25 | BL41XU | 専有 |
| 3 | 2018B2009 | リチウムイオン電池のイメージング測定 | 山重 寿夫 | トヨタ自動車（株） | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 3 | BL20XU | 専有 |
| 4 | 2018B2011 | 高分解能X線望遠鏡のための高精度ウォルターミラーの評価 | 三宅 明 | キヤノン（株） | 日本 | 産業界 | ビームライン技術 | 0.625 | BL29XU | 専有 |
| 5 | 2018B2016 | Ｘ線による損傷および界面の化学状態の研究 | 大浦 正樹 | 理化学研究所 | 日本 | 国公立研究機関等 | 物質科学・材料科学 | 13 | BL17SU | 専有 |
| 6 | 2018B2022 | 半導体材料のXAFS測定 | 高石 理一郎 | 東芝メモリ（株） | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 2 | BL14B2 | 専有 |
| 7 | 2018B2028 | CdTeセンサを用いたハイブリッド型ピクセル検出器の単結晶構造解析による評価 | 初井 宇記 | 理化学研究所 | 日本 | 国公立研究機関等 | ビームライン技術 | 2 | BL02B1 | 専有 |
| 8 | 2018B2029 | CdTeセンサを用いたハイブリッド型ピクセル検出器の61 keV放射光Ｘ線全散乱測定による評価 | 初井 宇記 | 理化学研究所 | 日本 | 国公立研究機関等 | ビームライン技術 | 2 | BL04B2 | 専有 |
| 9 | 2018B2030 | CdTeセンサを用いたハイブリッド型ピクセル検出器の115 keV放射光Ｘ線全散乱測定による評価 | 初井 宇記 | 理化学研究所 | 日本 | 国公立研究機関等 | ビームライン技術 | 2 | BL08W | 専有 |
| 10 | 2018B2031 | CdTeセンサを用いたハイブリッド型ピクセル検出器の放射光白色Ｘ線回折測定による評価 | 初井 宇記 | 理化学研究所 | 日本 | 国公立研究機関等 | ビームライン技術 | 2 | BL28B2 | 専有 |
| 11 | 2018B2048 | 永久磁石材料のXMCD測定 | 矢野 正雄 | トヨタ自動車（株） | 日本 | 産業界 | 物質科学・材料科学 | 3 | BL25SU | 専有 |
| 12 | 2018B2063 | 無機半導体試料の歪み分布解析 | 稲葉 雄大 | ソニー（株） | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 4 | BL13XU | 専有 |
| 13 | 2018B2065 | LIB電極材料のHAXPES測定 | 高尾 直樹 | （株）日産アーク | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 2 | BL46XU | 専有 |
| 14 | 2018B2068 | X線小角散乱によるセメント粒子の評価 | 人見 尚 | （株）大林組 | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 2 | BL19B2 | 専有 |
| 15 | 2018B2072 | 創薬のための低分子X線結晶構造解析 | 今吉 憲幸 | SAI（株） | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 0.25 | BL41XU | 専有 |
| 16 | 2018B2111 | 検出器評価実験 | 初井 宇記 | 理化学研究所 | 日本 | 国公立研究機関等 | ビームライン技術 | 3 | BL29XU | 専有 |