X-ray diffraction microscopy
利用事例本文
X-ray diffraction microscopy is a unique technique to reconstruct a sample image from its oversampled diffraction intensity pattern. Using this technique, one can determine electron density distribution without need of sample crystallization.
The following figures show the diffraction intensity pattern and the 2D reconstruction of Escherichia coli bacteria.
Fig. X-ray diffraction intensity pattern of Escherichia coli bacteria
Fig. Image of Escherichia coli bacteria reconstructed from the diffraction intensity pattern
[ J. Miao, K. O. Hodgson, T. Ishikawa, C. A. Larabell, M. A. LeGros and Y. Nishino, Proceedings of National Academy of Science of the USA 100, 110-112 (2003), Fig. 1A, 2,
©2003 National Academy of Science ]
学術利用キーワード
A. 試料 | 無機材料, 有機材料, 生物・医学 |
---|---|
B. 試料詳細 | 金属・合金, 半導体, 絶縁体・セラミックス, 結晶性固体, 非晶質、ガラス, 生体組織、細胞系等, 生体材料 |
C. 手法 | X線回折 |
D. 手法の詳細 | コヒーレント散乱, 位相計測, スペックル |
E. 付加的測定条件 | 二次元画像計測, 三次元画像計測(CT等), 高分解能画像計測(顕微鏡) |
F. エネルギー領域 | X線(4~40 keV) |
G. 目的・欲しい情報 | 構造解析 |
産業利用キーワード
階層1 | 製薬 |
---|---|
階層2 | ドラッグデザイン, 食品, 環境物質 |
階層3 | 生体 |
階層4 | |
階層5 | 回折, イメージング |
問い合わせ番号
SOL-0000000970