Off-axis holography
問い合わせ番号
SOL-0000001544
ビームライン
BL29XU（理研 物理科学I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 位相計測 |
| E. 付加的測定条件 | 二次元画像計測 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 形態・巨視的構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 形態 |
| 階層5 | 回折, イメージング |
分類
M60.20 Ｘ線ＣＴ
利用事例本文
X線プリズムを用いた波面分割干渉計を、オフアクシスホログラフィーに適用しました。この方法を用い、アモルファスカーボンの球形粒子について定量計測を行いました。
下図に、実験配置、カーボンの球形粒子で観察された像、試料後面での複素振幅の決定結果を示します(下左、透過率分布、下右、位相シフト分布)。12.4keVのX線を用いており、位相像におけるバックグラウンド(下右図の四角内で評価)は、l/100(標準偏差)程度という低いレベルが達成されました。
[ Y. Kohmura, T. Sakurai, T. Ishikawa and Y. Suzuki, Journal of Applied Physics 96, 1781-1784 (2004), Fig. 1, 3, 4,
©2004 American Institute of Physics ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Journal of Applied Physics, 96, 4, 1781 (2004)
図番号
1,3,4
測定手法
縞走査法を用いて複数のホログラムを撮影すると、検出器面での複素振幅を決定出来ます。波面が自由伝播している効果を計算機によって補正すると、試料後面での複素振幅が決定出来ます。参照光と物体光が綺麗に分離されるため、像再生の際に虚像が重なる事が無く、綺麗な像が得られます。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
12 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| 神津製作所回折計 | 試料とプリズムの調整 | |
| 浜松フォトニクスズーミング管 | 高解像度画像計測 |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| Y.Kohmura et al., Journal of Applied Physics, 96, 4, 1781 (2004) |
関連する手法
シェアリング干渉計法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト