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INS-0000000534

設備一覧

• XMCD測定用電磁石
  • H = 0.6, 1.1, 2.0 T。それぞれ 45, 20, 10 mm の磁極間隔に対応
• 10 T 超伝導マグネット
  • H = 0 ∼ 10 T
  • ストローク: ± 10 mm
  • 試料温度: 1.8 ∼ 300 K
• XMCD測定用ヘリウム循環型クライオスタット
  • 試料温度: 20 ∼ 300 K。電磁石に取り付け可能
• XMCD測定用ヘリウムフロー型クライオスタット
  • 試料温度: 11 ∼ 330 K。電磁石との組み合わせ可能
• 多層膜等に対するX線共鳴磁気散乱用4軸回折計
  • Huber 424 + 511.1 4軸ゴニオメーター
• 磁気散乱用クライオスタット
  • 試料温度: 20 ∼ 300 K。4軸ゴニオメーターに取り付け可能
• ダイヤモンドアンビル高圧セル
  • 仕様: DXR-GM 型
  • 圧力範囲: 常圧 ∼ 50 GPa (ただし、低温の場合、< 20 GPa) 
  • キュレット径 : 0.35, 0.45, 0.60, 1.0 mm
  • ガードル径/高さ : 2.0 mm / 1.0 mm
  • 印加可能な磁場は最大 0.6 T (室温利用)
  • 専用のクライオスタットを利用することで低温でも利用可能。ただし、最大磁場 0.4 T
• 小型ダイヤモンドアンビル高圧セル
  • 仕様: ~φ24 mm、~h40 mm
  • 圧力範囲: 常圧 ∼ 20 GPa
  • キュレット径 : 0.35, 0.45, 0.60, 1.0 mm
  • 室温でのみ利用可能。印加可能な磁場は最大 0.6 T
  • ガードル径/高さ : 2.0 mm / 1.0 mm
  • 超伝導磁石およびヘリウムフロー型クライオスタットに搭載可能
• ダイヤモンドアンビル高圧セル
  • 仕様: 50 mm × 50 mm × 40 mm
  • 圧力範囲: 常圧 ∼ 100 GPa (室温のみ) 
  • キュレット径 : 0.075 mm (ベベル付)
  • ガードル径/高さ : 2.0 mm / 1.0 mm
  • 印加可能な磁場は最大 0.6 T (室温のみ)
• 高圧測定用KB集光ミラー
  • ミラーの材質: SiO₂ + Rhコート
  • 視斜角: 5.5 mrad (垂直集光) / 5.5 mrad (水平集光)
  • 焦点距離: 655 mm (垂直集光) / 460 mm (水平集光)
  • ワークディスタンス: 360 mm
  • 集光ビームサイズ: 4 µm (縦) × 5 µm (横)
• マイクロビームXMCD測定用KB集光ミラー
  • ミラーの材質: Si (垂直集光) + Rhコート / SiO₂ (水平集光) + Rhコート
  • 視斜角: 4.0 mrad (垂直集光) / 3.8 mrad (水平集光)
  • 焦点距離: 460 mm (垂直集光) / 200 mm (水平集光)
  • ワークディスタンス: 100 mm
  • 集光ビームサイズ: 100-300 nm (縦) × 100-300 nm (横)
• エネルギー分散型発光分光用分光結晶
  • 仕様: 100 mm × 50 mm、2R = 500 mm (Johan 型)
  • 結晶面: Ge 111、Ge 220、Si 400、InSb 111
• 検出器
  • イオンチェンバー
  • PINフォトダイオード
  • NaI シンチレーションカウンタ
  • Si (Li) 半導体検出器
  • シリコンドリフト検出器 (単素子、4素子) 
  • 蛍光X線用イオンチェンバー (ライトル検出器)
  • アバランシェ・フォトダイオード(APD)
• 計測器
  • ロックインアンプ
  • ディジタルオシロスコープ
  • マルチチャンネルアナライザー
  • ディジタルマルチメーター
  • ペンレコーダー
  • モニター用CCDカメラ
  • ガウスメーター
  • ルビー蛍光顕微圧力測定装置 (常圧 ~ 50 GPa)
• その他の備品
  • ４象限スリット
  • X線用アッテネータ
  • 真空X線パス
  • 排気用スクロールポンプ
  • チョッパー (周波数: 5 ∼ 20000 Hz)
  • 液体窒素デュワー
  • デシケーター
  • 超音波洗浄器