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BL39XU 設備一覧

問い合わせ番号

INS-0000000534

設備一覧

  • XMCD測定用電磁石
    • H = 0.6, 1.1, 2.0 T。それぞれ 45, 20, 10 mm の磁極間隔に対応
  • 7 T 超伝導マグネット
    • 磁場: 0 ∼ 7 T (磁場掃引速度: 0.117 T/min)
    • 試料温度: 1.5 ∼ 300 K
  • XMCD測定用ヘリウムフロー型クライオスタット
    • 試料温度: 11 ∼ 330 K
    • 電磁石との組み合わせ可能
    • 小型ダイヤモンドアンビル高圧セルを取り付け可能
  • XMCD測定用パルスチューブ型クライオスタット
    • 試料温度: 4 ∼ 300 K
    • 電磁石との組み合わせ可能
    • 小型ダイヤモンドアンビル高圧セルを取り付け可能
  • X線共鳴磁気散乱用4軸回折計
    • Huber 424 + 511.1 4軸ゴニオメーター
  • ダイヤモンドアンビル高圧セル
    • 仕様: DXR-GM 型
    • 圧力範囲: 常圧 ∼ 50 GPa (ただし、低温の場合、< 20 GPa) 
    • 印加可能な磁場は最大 0.6 T (室温利用)
    • 専用のクライオスタットを利用することで低温でも利用可能。ただし、最大磁場 0.4 T
  • 小型ダイヤモンドアンビル高圧セルA
    • 仕様: ~φ24 mm、~h40 mm
    • 圧力範囲: 常圧 ∼ 20 GPa
    • 磁場: 0.6 T
    • ヘリウムフロー型/パルスチューブ型クライオスタットに搭載可能
  • 小型ダイヤモンドアンビル高圧セルB
    • 仕様: ~φ23 mm、~h17 mm
    • 圧力範囲: 常圧 ∼ 20 GPa
    • 磁場: 0.6 T
    • ヘリウムフロー型/パルスチューブ型クライオスタットに搭載可能
  • 角型ダイヤモンドアンビル高圧セル (室温のみ)
    • 仕様: 50 mm × 50 mm × 40 mm
    • 圧力範囲: 常圧 ∼ 100 GPa
    • 印加可能な磁場は最大 0.6 T
  • ダイヤモンドアンビル
    • 共通仕様: ガードル径 2.0 mm, 高さ 1.0 mm
    • キュレット径 : 0.075 mm (ベベル付) (圧力範囲: 常圧~100 GPa (室温のみ))
      キュレット径 : 0.3~0.35 mm (圧力範囲: 常圧~80 GPa)
      キュレット径 : 0.45 mm (圧力範囲: 常圧~50 GPa)
      キュレット径 : 0.60 mm (圧力範囲: 常圧~20 GPa)
  • 高圧測定用KB集光ミラー
    • ミラーの材質: SiO2 + Rhコート
    • 視斜角: 5.5 mrad (垂直集光) / 5.5 mrad (水平集光)
    • 焦点距離: 755 mm (垂直集光) / 560 mm (水平集光)
    • ワークディスタンス: 400 mm
    • 集光ビームサイズ: 2 µm (縦) × 9 µm (横)
  • ナノビームKB集光ミラー
    • ミラーの材質: Si (垂直集光) + Rhコート (垂直集光)/ SiO2 + Rh コート(水平集光)
    • 視斜角: 4.0 mrad (垂直集光) / 3.8 mrad (水平集光)
    • 焦点距離: 460 mm (垂直集光) / 200 mm (水平集光)
    • ワークディスタンス: 80 mm
    • 集光ビームサイズ: 100-300 nm (縦) × 100-300 nm (横)
  • 円筒面湾曲型発光分光用分光結晶
    • 仕様: 100 mm × 50 mm、2R = 500 mm
      結晶面: Si 400, Ge 111, Ge 220
    • 仕様: 65 mm × 35 mm、2R = 500 mm
      結晶面: InSb 111
    • 仕様: 100 mm × 30 mm、2R = 550 mm
      結晶面: Si 111, Ge 220
    • 仕様: 100 mm × 30 mm、2R = 950 mm
      結晶面: Si 111 
  • 球面湾曲型発光分光用分光結晶
    • 仕様: φ75mm, 2R = 820 mm
      結晶面: Si 111, Si 220, Si 620, Si 911, Ge 111, Ge 331, Ge 620
    • 仕様: φ40mm, 2R = 820 mm
      結晶面: Si 311, Si 400, Ge 111, Ge 220, InSb 111, InSb 220
  • 検出器
    • イオンチェンバー
    • PINフォトダイオード
    • NaI シンチレーションカウンタ
    • シリコンドリフト検出器 (単素子、4素子) 
    • 蛍光X線用イオンチェンバー (ライトル検出器)
    • アバランシェ・フォトダイオード(APD)
    • PILATUS 100K二次元検出器 (Si)
    • PiXirad-2 二次元検出器 (CdTe)
  • 計測器
    • ロックインアンプ
    • ディジタルオシロスコープ
    • マルチチャンネルアナライザー
    • ディジタルマルチメーター
    • モニター用CCDカメラ
    • ガウスメーター
    • ルビー蛍光顕微圧力測定装置 (常圧 ~ 50 GPa)
  • その他の備品
    • 4象限スリット
    • X線用アッテネータ
    • 真空X線パス
    • 排気用スクロールポンプ
    • チョッパー (周波数: 5 ∼ 20000 Hz)
    • 液体窒素デュワー
    • デシケーター
    • 超音波洗浄器
最終変更日 2017-04-11 18:14
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