2008年前期実施課題2008A一覧:一般研究課題(その10)
S/N | 1~50 | 51~100 | 101~150 | 151~200 | 201~250 | 251~300 | 301~350 | 351~400 | 401~450 | 451~481 |
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成果専有課題は「公開用課題名」を表示
S/N |
課題番号 |
実験責任者名 |
課題名 |
実施時所属 |
所属大分類 |
研究分野 |
実施シフト |
国名 |
ビームライン |
成果専有 /非専有 |
451 | 2008A1407 | 都竹 浩一郎 | 赤外分光法による低温焼成セラミックス原料の合成過程及び焼結過程の解析 | 太陽誘電(株) | 産業界 | 産業利用 | 18 | 日本 | BL43IR | 非専有 |
452 | 2008A1416 | 池本 夕佳 | 赤外放射光を用いた近接場分光 | (財)高輝度光科学研究センター | 国公立研究機関等 | 物質科学・材料科学 | 11.875 | 日本 | BL43IR | 非専有 |
453 | 2008A1442 | 奥山 誠義 | シンクロトロン顕微赤外分光法による古代遺跡出土繊維資料および漆資料の材質と保存に関する基礎的研究( III ) | 奈良県立橿原考古学研究所 | 国公立研究機関等 | その他 | 9 | 日本 | BL43IR | 非専有 |
454 | 2008A1376 | 岩本 裕之 | 昆虫飛翔筋の収縮時におけるアクチン分子構造変化のX線回折学的研究 | (財)高輝度光科学研究センター | 国公立研究機関等 | 生命科学 | 6 | 日本 | BL45XU | 非専有 |
455 | 2008A1379 | Ban, Changill | Diffraction and determination of low resolution structure for mismatch repair proteins using small-angle X-ray scattering (SAXS) | Pohang University of Science and Technology (POSTECH) | 海外 | 生命科学 | 6 | 韓国 | BL45XU | 非専有 |
456 | 2008A1444 | 上村 慎治 | 小角X線回折を使った微小管の動的構造ゆらぎ解析 | 中央大学 | 大学等教育機関 | 生命科学 | 6 | 日本 | BL45XU | 非専有 |
457 | 2008A1526 | 西田 幸次 | 高速温度ジャンプ法によるメゾ相を経由する高分子の結晶化 | 京都大学 | 大学等教育機関 | 物質科学・材料科学 | 6 | 日本 | BL45XU | 非専有 |
458 | 2008A1532 | 谷森 達 | μPICの性能評価および高精度小角散乱実験への応用 | 京都大学 | 大学等教育機関 | ビームライン技術 | 5.75 | 日本 | BL45XU | 非専有 |
459 | 2008A1544 | 鳥羽 栞 | カルシウムイオンによるクラミドモナス鞭毛ラジアルスポークの構造変化のX線回折による解析 | (独)情報通信研究機構 | 国公立研究機関等 | 生命科学 | 8.875 | 日本 | BL45XU | 非専有 |
460 | 2008A1563 | 石森 浩一郎 | 呼吸鎖末端酸化酵素であるシトクロムc酸化酵素における電子伝達複合体の構造化学的解析 | 北海道大学 | 大学等教育機関 | 生命科学 | 6 | 日本 | BL45XU | 非専有 |
461 | 2008A1057 | 安藤 幸也 | エンジニアリングプラスチックスの残留歪解析 | (株)デンソー | 産業界 | 産業利用 | 3 | 日本 | BL46XU | 専有 |
462 | 2008A1136 | 中井 宗紀 | 圧電材料の電圧印加観察 | 富士フイルム(株) | 産業界 | 産業利用 | 3 | 日本 | BL46XU | 専有 |
463 | 2008A1137 | 中井 宗紀 | 圧電材料の電圧印加観察 | 富士フイルム(株) | 産業界 | 産業利用 | 3 | 日本 | BL46XU | 専有 |
464 | 2008A1625 | 戸田 昭夫 | 放射光を用いたMulti-Chip Package(MCP)内Siチップの非破壊応力/反り評価 | 日本電気(株) | 産業界 | 産業利用 | 3 | 日本 | BL46XU | 専有 |
465 | 2008A1834 | 佐藤 真直 | BL46XUにおける多軸回折計及び高エネルギーXPS装置の立ち上げ | (財)高輝度光科学研究センター | 国公立研究機関等 | 産業利用 | 17.875 | 日本 | BL46XU | 非専有 |
466 | 2008A1850 | 水牧 仁一朗 | 結晶格子歪制御による巨大磁気異方性発現技術の検討 | (財)高輝度光科学研究センター | 国公立研究機関等 | 産業利用 | 6 | 日本 | BL46XU | 非専有 |
467 | 2008A1923 | 梶原 堅太郎 | BL46XUにおける光学系装置のX線イメージングに対する評価 | (財)高輝度光科学研究センター | 国公立研究機関等 | 産業利用 | 3 | 日本 | BL46XU | 非専有 |
468 | 2008A1924 | 廣沢 一郎 | 多軸回折装置を用いた微小角入射X線小角散乱技術の開発 | (財)高輝度光科学研究センター | 国公立研究機関等 | 産業利用 | 6 | 日本 | BL46XU | 非専有 |
469 | 2008A1929 | 佐藤 真直 | 硬X線光電子分光測定による鉄鋼表面酸化皮膜(不動態皮膜)中の化学組成深さ分布測定技術の検討 | (財)高輝度光科学研究センター | 国公立研究機関等 | 産業利用 | 9 | 日本 | BL46XU | 非専有 |
470 | 2008A1947 | 岡田 一幸 | 薄膜の斜入射X線回折及びX線反射率 | (株)東レリサーチセンター | 産業界 | 産業利用 | 1 | 日本 | BL46XU | 専有 |
471 | 2008A1950 | 木宮 宏和 | 酸化物の薄膜X線回折の測定 | 松下電器産業(株) | 産業界 | 産業利用 | 1 | 日本 | BL46XU | 専有 |
472 | 2008A1955 | 中居 司 | 酸化物のHX-PES解析 | (株)東芝 | 産業界 | 産業利用 | 3 | 日本 | BL46XU | 専有 |
473 | 2008A1142 | 戸田 裕之 | 鋳物表面直下の水素ミクロポアが疲労亀裂発生に及ぼす影響の解明 | 豊橋技術科学大学 | 大学等教育機関 | 産業利用 | 9 | 日本 | BL47XU | 非専有 |
474 | 2008A1190 | 水谷 隆太 | 神経回路ネットワークの三次元解析 | 東海大学 | 大学等教育機関 | 生命科学 | 6 | 日本 | BL47XU | 非専有 |
475 | 2008A1237 | 佐藤 暢高 | 硬X線光電子分光法による半導体材料の解析 | 東芝ナノアナリシス(株) | 産業界 | 産業利用 | 6 | 日本 | BL47XU | 専有 |
476 | 2008A1284 | 寺本 章伸 | 硬X線光電子分光によるゲート絶縁膜/シリコン界面における組成遷移層の原子構造のシリコン基板側からの検出 | 東北大学 | 大学等教育機関 | 物質科学・材料科学 | 8.875 | 日本 | BL47XU | 非専有 |
477 | 2008A1409 | 松永 利之 | 高速相変化光記録材料Ag3.4In3.7Sb76.4Te16.5の高分解能硬X線光電子分光 | 松下電器産業(株) | 産業界 | 物質科学・材料科学 | 3 | 日本 | BL47XU | 非専有 |
478 | 2008A1434 | 竹内 晃久 | サブmm視野、サブミクロン分解能X線顕微CTシステムの開発 | (財)高輝度光科学研究センター | 国公立研究機関等 | ビームライン技術 | 6 | 日本 | BL47XU | 非専有 |
479 | 2008A1504 | 小川 恵三 | 硬X線光電子分光法による薄膜表面・界面の構造解析 | 富士フイルム(株) | 産業界 | 産業利用 | 3 | 日本 | BL47XU | 専有 |
480 | 2008A1509 | 堀場 弘司 | 硬X線光電子分光線二色性によるストレイン制御La1-xSrxMnO3薄膜の軌道秩序の直接観測 | 東京大学 | 大学等教育機関 | 物質科学・材料科学 | 9 | 日本 | BL47XU | 非専有 |
481 | 2008A1564 | 土’山 明 | 「スターダスト」計画によって捕獲された彗星塵粒子の3次元構造とその生成条件 | 大阪大学 | 大学等教育機関 | 地球・惑星科学 | 6 | 日本 | BL47XU | 非専有 |