| SPring-8 | BL16B2、BL08B2、BL19B2、BL20B2、BL24XU、BL28B2 |
X線トポグラフィ研究会は、結晶性物質中の高次構造の実空間分布を、X線の回折・散乱現象を利用して可視化する技術の開発・改良およびその利活用に関する科学・関連工学を探求することを目的とする。
先端的X線トポグラフィ技術の開発においては、SPring-8シンクロトロン放射光が有する大強度・高輝度・高エネルギー・高干渉性といった特長を最大限に活用し、空間分解能、実時間観察における時間分解能、ならびにコントラスト比の飛躍的向上を目指す。また、開発した技術・手法の適用範囲を、従来は観察・評価が困難であった対象へと大幅に拡大する。
新たに開発された回折イメージング技法の適用範囲拡大においては、各種無機・有機人工結晶、人工多層膜、人工不均一構造の評価に加え、電子デバイス内部に存在する格子欠陥や格子ひずみを非破壊的に観測し、デバイス特性の最適化・高性能化に資することを通じて、産業利用を志向するグループとの連携・共同を強化する。さらに、X線トポグラフィおよび関連技術に関する最新情報の交換と新規アイデアの醸成を目的とした研究会会合を企画・立案し、開催する。
加えて、SPring-8のユーザーグループとしてのみならず、Photon Factory等の他の放射光施設のユーザーとも連携し、各放射光施設への提言を行うことで、X線トポグラフィ技術の発展を目指す。
第7期では、BL16B2にハイスループットX線トポグラフィ測定システムの導入を進め、2025年秋から共用利用を開始した。
第8期では、SPring-8-IIへの移行も見据え、ユーザーの要望を踏まえて装置の高度化を進めたい。