大型放射光施設 SPring-8

　X線自由電子レーザー（XFEL）施設SACLAでは、産業界の皆様にSACLAの利用実験を体験いただく機会として、産業利用に特化した研修会を2026年度に複数回企画しています。一連の研修会では、SACLAの標準的な計測手法である回折、散乱、分光、イメージングなどを順次取り上げる計画です。6月に開催する研修会では、粉末回折測定を取り上げます。
本研修会にご参加いただくことで、XFELを用いた実験について学び、SACLAでの計測を試験的に体験いただけます。研修会では、参加者の方に持参いただいた試料を用いて、XFEL照射時の試料への影響を調べたり、XFELを使って取得できるデータとその解析方法などを確認したりすることが可能です。

主な対象者：
SACLAの利用を計画または検討している企業に所属されている方。または、大学・研究機関に所属し産学連携研究に取り組んでおられる方。ただし、学生は対象外とします。

募集定員：
試料を持ち込んで計測できる方は、５グループ程度に限定します（１グループ３名以内）。
※参加希望者が定員を上回った場合の調整は、当方に一任願います。必ずしも先着順にならないことがあります。また、そのような場合には、見学のみに限定してご参加いただけることがあります。
　

参加登録：
こちらから参加登録をお願いします。

なお、試験計測の実現可能性などを判断する参考情報としますので、持ち込み試料についての情報は正確にご記載ください。

申し込み締め切り：
2026年5月11日（月）12:00
（参加希望者多数の場合は、締切日以前に募集を終了することがあります。）

測定実習について：
１．測定実習では、グループ別ではなく、参加者全員で一連の試験計測を行います。
２．試験計測は、室温環境下での計測に限定します。
３．持ち込み試料については、以下の条件を満たすものに限定します。
○ 知財を含まないもの（試料および計測データが施設関係者および他の参加者らの目に触れても支障がないもの）
○ 安全、法規上問題ないもの
○ 汚染、破損、紛失しても構わないもの
○ 安全管理室審査の手続きを経て持ち込みを認められるもの
４．持ち込み試料は1グループ最大４個に制限します。限られた時間内での試験計測となりますので、必ずしも全ての試料を計測できるわけではないことをあらかじめご了承ください。実験条件の制約などにより、試料によっては試験計測を行えない場合があります。
５．持ち込み試料のサイズや保持方法などについて施設側から問い合わせをすることがあります。
６．測定準備のため、事前に試料を送付いただくようにお願いすることがあります。

その他注意事項：
１．本研修会において取得された結果（持ち込み試料や計測データを含む）については、SACLA産業利用の広報の目的で公開させていただくことがあります。
２．当日は試験計測データを持ち帰るためのストレージデバイスを持参してください。
３．本研修会へ参加されるには、原則SPring-8ユーザ登録、放射線従事者登録などの諸手続きを完了されていることが必要です。手続きに関する案内は参加受付後ご連絡いたします。なお、放射線従事者登録されていない場合には、自ら計測作業を行わない見学に限って参加いただける可能性があります。
４．参加者への連絡などはすべてe-mailで行います。参加の手続きにはオンライン登録や書類のダウンロードが必要です。インターネットに接続できる環境をご用意ください。
５．研修会への参加は無料です。研修会参加者への旅費支給等はありません。
６．前日及び当日に宿泊が必要な方は、SPring-8研究交流施設をご利用いただけます（シングルルーム2000円/日、ツインルーム3000円/室）。

問合せ先
ご質問、ご要望はメールにてお願い致します。
実習担当：（内容等について）
　（公財）高輝度光科学研究センター
　XFEL利用研究推進室
　担当 ：籔内　俊毅
e-mail ：tyabuuchi@spring8.or.jp
　　　　 片山　哲夫
e-mail ：tetsuo@spring8.or.jp

事務局：（手続き等について）
（公財）高輝度光科学研究センター
利用推進部 普及情報課
担当：濱本
Tel：05035023763
e-mail :jasri-event@spring8.or.jp