2003年後期採択2003B一覧：重点トライアルユース課題
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| S/N | 課題番号 | 課題名 | 実験責任者 | 所属 | 国名 | ビームライン | 実施シフト数 |
| 1 | 2003B0194-NI-np-TU | 水素雰囲気下でのPd/V/Pd膜の歪み解析 | 砥綿 真一 | （株）豊田中央研究所 | 日本 | BL19B2 | 6 |
| 2 | 2003B0223-NI-np-TU | 室温強磁性透明酸化亜鉛半導体膜中の不純物遷移元素の局所構造に関する研究 | 伊崎 昌伸 | 大阪市立工業研究所 | 日本 | BL19B2 | 6 |
| 3 | 2003B0238-NI-np-TU | イオン注入法により調製した可視光応答型酸化チタン薄膜光触媒のXAFS測定 | 井村 達哉 | 川崎重工業（株） | 日本 | BL19B2 | 3 |
| 4 | 2003B0239-NI-np-TU | 水素、酸素飽和溶解水中での電解による気泡核生成及び微小気泡離脱過程を伴う溶解過程の解析 | 才原 康弘 | 松下電工（株） | 日本 | BL19B2 | 6 |
| 5 | 2003B0247-NI-np-TU | 表面結晶化度の液晶配向性に与える影響 | 酒井 隆宏 | 日産化学工業（株） | 日本 | BL19B2 | 9 |
| 6 | 2003B0266-NI-np-TU | 発光デバイス用青色蛍光体中のEu(II)のXAFS解析 | 尾崎 伸司 | （株）松下テクノリサーチ | 日本 | BL01B1 | 4 |
| 7 | 2003B0304-NI-np-TU | Al2O3/TiCN膜の残留応力深さ方向分布の詳細測定 | 土屋 新 | 三菱マテリアル（株） | 日本 | BL19B2 | 9 |
| 8 | 2003B0390-NI-np-TU | 微小角入射X線散乱による、ポーラス低誘電率材料の構造解析 | 鈴木 貴志 | 富士通（株） | 日本 | BL19B2 | 6 |
| 9 | 2003B0439-NI-np-TU | XAFSによるFED用蛍光体SrIn2O4:Pr3+のPr3+が発光中心としてドープされるサイトの検討 | 山元 明 | 東京工科大学 | 日本 | BL01B1 | 3 |
| 10 | 2003B0449-NI-np-TU | 外部応力下のBi2223超伝導複合テープ材における構成要素不均一歪による超伝導ブレークダウンの定量化と長尺実装設計への応用 | 奥田 浩司 | 京都大学 | 日本 | BL46XU | 9 |
| 11 | 2003B0473-NI-np-TU | ポリマーセメント防水材における水和反応および水和物結晶構造解析 | 宮下 景子 | （株）大関化学研究所 | 日本 | BL19B2 | 6 |
| 12 | 2003B0485-NI-np-TU | クロマイト系機能性セラミックにおける超微量ドーパントのXAFS | 森分 博紀 | 松下電子部品（株） | 日本 | BL01B1 | 6 |
| 13 | 2003B0536-NI-np-TU | Asイオン除去のための水酸アパタイトの開発と局所構造解析 | 中平 敦 | 京都工芸繊維大学 | 日本 | BL01B1 | 6 |
| 14 | 2003B0548-NI-np-TU | プリント基板内部の金属配線部の残留応力の非破壊測定 | 田中 啓介 | 名古屋大学 | 日本 | BL46XU | 9 |
| 15 | 2003B0613-NI-np-TU | 微量希土類元素・遷移金属を含むGaN系高次機能調和型半導体での偏光XAFS法による局所構造 | 寺口 信明 | シャープ（株） | 日本 | BL19B2 | 4 |
| 16 | 2003B0663-NI-np-TU | 透過X線トポグラフィーによる蛍石結晶の測定 | 野間 敬 | キヤノン（株） | 日本 | BL28B2 | 9 |
| 17 | 2003B0678-NI-np-TU | レーザー1パルス照射痕内の微小部三次元残留応力分布測定 | 佐野 雄二 | （株）東芝 | 日本 | BL46XU | 9 |
| 18 | 2003B0703-NI-np-TU | 屈折コントラストイメージングによるヒト毛髪の非破壊内部観察 | 佐野 則道 | プロクター・アンド・ギャンブル・ファー・イースト・インク | 日本 | BL19B2 | 3 |
| 19 | 2003B0724-NI-np-TU | 高輝度X線イメージングを用いたカミソリ刃によるヒゲ切断現象の微視的解析 | 濱田 糾 | 松下電工（株） | 日本 | BL19B2 | 6 |
| 20 | 2003B0731-NI-np-TU | Bi系酸化物超電導線材の内部構造観察 | 山口 浩司 | 住友電気工業（株） | 日本 | BL19B2 | 4 |
| 21 | 2003B0771-NI-np-TU | Li電池負極材料の充放電に伴う微量析出物の同定(II) | 和田 仁 | 福田金属箔粉工業（株） | 日本 | BL19B2 | 3 |
| 22 | 2003B0947-RI-np-TU | EB-PVD遮熱コーティングの残留応力の解析 | 鈴木 賢治 | 新潟大学 | 日本 | BL19B2 | 6 |
| 23 | 2003B0961-RI-np-TU | 中国および日本産の青銅器の蛍光分析 | 外山 潔 | （財）泉屋博古館 | 日本 | BL19B2 | 3 |