2004年後期実施課題2004B一覧：重点トライアルユース課題
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| S/N | 課題番号 | 課題名 | 実験責任者 | 所属 | 国名 | BL | シフト数 |
| 1 | 2004B0111-NI-np-TU | XAFSによる新規PDP用青色蛍光体CaMgSi2O6:Euの発光中心周辺環境の解析 | 國本 崇 | 徳島文理大学 | 日本 | BL01B1 | 3 |
| 2 | 2004B0201-NI-np-TU | 放射光を用いた新規高性能ポリイミド単繊維の高応力下における結晶構造変化の測定 | 佐藤 和彦 | 帝人（株） | 日本 | BL46XU | 9 |
| 3 | 2004B0243-NI-np-TU | 磁気ディスク用フッ素系潤滑剤の吸着厚み、形態、およびその内部構造に関するX線的測定 | 坂根 康夫 | （株）松村石油研究所 | 日本 | BL19B2 | 6 |
| 4 | 2004B0329-NI-np-TU | 微小角入射Ｘ線散乱によるアモルファスIZO膜の構造解析 | 島根 幸朗 | 出光興産（株） | 日本 | BL46XU | 6 |
| 5 | 2004B0331-NI-np-TU | Ｘ線反射率測定及び反射小角散乱による液晶配向膜の評価 | 筒井 皇晶 | 日産化学工業（株） | 日本 | BL19B2 | 6 |
| 6 | 2004B0361-NI-np-TU | 緑色蛍光体CSSにおけるCeイオン近傍の結晶場の解析 | 茂岩 統之 | 三菱化学（株） | 日本 | BL01B1 | 3 |
| 7 | 2004B0362-NI-np-TU | Zn添加Y2O3:Eu蛍光体におけるZnの局所構造解析 | 中西 洋一郎 | 静岡大学 | 日本 | BL19B2 | 3 |
| 8 | 2004B0364-NI-np-TU | 斜入射X線小角散乱による、Nano-Clustering Silica膜の空孔評価 | 淡路 直樹 | （株）富士通研究所 | 日本 | BL19B2 | 5.75 |
| 9 | 2004B0370-NI-np-TU | Ce賦活Gd2SiO5系シンチレータ材料における賦活剤および添加剤置換サイトの解析 | 八木 康洋 | 日立化成工業（株） | 日本 | BL01B1 | 6 |
| 10 | 2004B0371-NI-np-TU | 燃料電池用カーボン電極材料の精密構造解析 | 今井 英人 | 日本電気（株） | 日本 | BL19B2 | 3 |
| 11 | 2004B0384-NI-np-TU | XAFS測定による酸化チタン担持金触媒の化学構造解析 | 斉藤 昇 | （株）日本触媒 | 日本 | BL19B2 | 3 |
| 12 | 2004B0493-NI-np-TU | Hfシリケート薄膜の動径分布測定 | 竹村 モモ子 | （株）東芝 | 日本 | BL46XU | 9 |
| 13 | 2004B0617-NI-np-TU | 位相コントラスト法によるリチウム電池の金属リチウム電極の観察 | 島川 祐一 | 京都大学 | 日本 | BL19B2 | 3 |
| 14 | 2004B0677-NI-np-TU | 銀発色したフロートガラス表面における銀および種々イオンの酸化還元状態のXAFSによる決定 | 滝本 康幸 | 旭硝子（株） | 日本 | BL19B2 | 6 |
| 15 | 2004B0690-NI-np-TU | 光増幅器用Erドープガラスの局所構造の調査 | 笹井 淳 | 旭硝子（株） | 日本 | BL19B2 | 3 |
| 16 | 2004B0893-RI-np-TU | 高性能偏光板開発のためのポリビニルアルコール中のヨウ素アニオンのXAFSによる構造研究 | 島津 彰 | 日東電工（株） | 日本 | BL19B2 | 3 |
| 17 | 2004B0895-RI-np-TU | ナノ結晶蛍光体をガラス中に三次元積層化した高輝度蛍光ガラスの局所構造の調査 | 小西 明男 | 日本山村硝子（株） | 日本 | BL19B2 | 3 |
| 18 | 2004B0898-RI-np-TU | XAFS法による添加物処理したMg系水素貯蔵材料の化学結合状態分析 | 市川 貴之 | 広島大学 | 日本 | BL19B2 | 3 |
| 19 | 2004B0900-RI-np-TU | 不溶化処理した鉛汚染土壌中の鉛のXAFSおよび粉末X線回折による形態分析 | 口舩 愛 | （株）アステック | 日本 | BL19B2 | 9 |
| 20 | 2004B0907-RI-np-TU | 酸化物蛍光体中の発光イオンEuのXAFSによる状態分析 | 奥本 佐登志 | 松下電工（株） | 日本 | BL19B2 | 6 |
| 21 | 2004B0920-RI-np-TU | Sn添加IZO薄膜のSn局所構造のXAFS解析 | 島根 幸朗 | 出光興産（株） | 日本 | BL19B2 | 6 |