大型放射光施設 SPring-8

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2005年前期実施課題2005A一覧:重点トライアルユース課題

問い合わせ先:利用業務部 TEL 0791-58-0961 E-mail: sp8jasri@spring8.or.jp

S/N 課題番号 課題名 実験責任者 所属 国名 BL 実施シフト数
1 2005A0030-NI-np-TU X線反射率測定及び反射小角散乱による液晶配向膜の評価 筒井 皇晶 日産化学工業(株) 日本 BL19B2 6
2 2005A0052-NI-np-TU 無機エレクトロルミネッセントディスプレイ用蛍光薄膜の局所結晶構造分析 岡本 信治 日本放送協会 日本 BL19B2 6
3 2005A0074-NI-np-TU 斜入射X線小角散乱法による、FePtナノ粒子のサイズ分布・位置相関評価 淡路 直樹 (株)富士通研究所 日本 BL19B2 6
4 2005A0075-NI-np-TU 緑色蛍光体CSS及びCSOにおけるCeイオン近傍の結晶場の解析(2) 茂岩 統之 (株)三菱化学科学技術研究センター 日本 BL19B2 6
5 2005A0078-NI-np-TU 高性能偏光板開発のためのポリビニルアルコール中のヨウ素アニオンのXAFSによる構造研究 島津 彰 日東電工(株) 日本 BL19B2 3
6 2005A0080-NI-np-TU 歪Si基板の非破損高精度歪分布測定 小椋 厚志 明治大学 日本 BL13XU 3
7 2005A0102-NI-np-TU 微小角入射X線散乱による非晶質HfO2膜およびHfシリケート膜の動径構造関数測定 廣沢 一郎 (財)高輝度光科学研究センター 日本 BL46XU 6
8 2005A0190-NI-np-TU 有機/高分子材料の相界面構造評価法の研究 中原 重樹 (株)三井化学分析センター 日本 BL13XU 3
9 2005A0201-NI-np-TU 高温熱処理した高誘電体絶縁膜の構造解析 山崎 英之 (株)東芝 日本 BL13XU 3
10 2005A0262-NI-np-TU 微小角入射X線散乱による太陽電池用アモルファスシリコン薄膜の非晶質構造解析-光劣化特性の相関の検討 高野 章弘 富士電機アドバンストテクノロジー(株) 日本 BL46XU 6
11 2005A0348-NI-np-TU 安全性評価のための放射光粉末X線回折による医薬品プレドニゾロン結晶多形のその場観察 岬 真太郎 塩野義製薬(株) 日本 BL19B2 3
12 2005A0373-NI-np-TU Bi系酸化物超電導線材の焼結過程のin-situX線回折法の検討 飯原 順次 住友電気工業(株) 日本 BL19B2 6
13 2005A0374-NI-np-TU 高強度鋼中の介在物寸法および位置の定量的評価 中井 善一 神戸大学 日本 BL19B2 6
14 2005A0895-RI-np-TU XAFSによるカルシウムシリケイト複合酸化物中のCaの化学状態に関する研究 松野 信也 旭化成(株) 日本 BL19B2 6
15 2005A0908-RI-np-TU ポリマーコンポジット中のCNTの分散状態解析 高瀬 博文 タキロン(株) 日本 BL19B2 3
16 2005A0912-RI-np-TU 白色照明用珪酸塩蛍光体におけるEuおよびMn置換サイトの結晶場解析 三上 昌義 (株)三菱化学科学技術研究センター 日本 BL19B2 6
17 2005A0916-RI-np-TU X線回折法を用いたガスクラスターイオンビーム照射に伴うダメージ層の構造に関する研究 平野 辰巳 (株)日立製作所 日本 BL19B2 6
18 2005A0918-RI-np-TU XAFS法によるLi-N-H系水素貯蔵材料に添加した触媒の化学状態分析 市川 貴之 広島大学 日本 BL19B2 6
19 2005A0894-RI-np-TU 微量のRuを担持した触媒および樹脂中に微量存在するSbのXAFSによる状態解析 塩沢 一成 (株)三井化学分析センター 日本 BL19B2 6
20 2005A0898-RI-np-TU X線分光分析に基づく鉄バクテリア法砒素除去システムの最適化 藤川 陽子 京都大学 日本 BL19B2 6
21 2005A0900-RI-np-TU XAFSによる希土類付活薄膜蛍光体の発光中心周辺環境の解析 國本 崇 徳島文理大学 日本 BL19B2 6