2006年後期実施課題2006B一覧:重点ナノテクノロジー支援課題
S/N | 課題番号 | 課題名 | 実験責任者 | 所属 | 国名 | BL | 実施シフト数 |
1 | 2006B1535 | 円偏光共鳴X線磁気回折法による間接交換結合Fe/Au金属多層膜の中間磁場領域でのAu層磁気分極分布 | 細糸 信好 | 奈良先端科学技術大学院大学 | 日本 | BL39XU | 11.875 |
2 | 2006B1536 | XMCD measurements on thiol capped gold and silver nanoparticles | Garitaonandia Jose | University of The Basque Country (UPV / EHU) | Spain | BL39XU | 9 |
3 | 2006B1537 | CoCrPt垂直磁化膜における磁気異方性とPtの軌道磁気モーメント | 石松 直樹 | 広島大学 | 日本 | BL39XU | 11.875 |
4 | 2006B1542 | 基板上で形状制御された強誘電体PbTiO3ナノアイランドの結晶構造とサイズ効果 | 清水 勝 | 兵庫県立大学 | 日本 | BL13XU | 11.75 |
5 | 2006B1544 | 格子緩和を制御した強誘電体薄膜BaTiO3薄膜の格子歪み評価 | 菅 大介 | 京都大学 | 日本 | BL13XU | 6 |
6 | 2006B1548 | 微細加工されたSiGeおよびGe細線構造における局所歪揺らぎの検出 | 酒井 朗 | 名古屋大学 | 日本 | BL13XU | 12 |
7 | 2006B1552 | X線斜入射によるランタン酸化物-シリコン界面遷移層の構造解析 | 角嶋 邦之 | 東京工業大学 | 日本 | BL13XU | 3 |
8 | 2006B1560 | 光電子顕微鏡によるhigh-kゲート絶縁膜のin situ加熱中界面反応の解明 | 尾嶋 正治 | 東京大学 | 日本 | BL17SU | 8.75 |
9 | 2006B1565 | 磁気円二色性を用いた異種金属内包フラーレンの元素選択的磁化解析 | 篠原 久典 | 名古屋大学 | 日本 | BL25SU | 12 |
10 | 2006B1566 | 放射光励起内殻光電子のケミカルイメージングによる表面反応過程 | 越川 孝範 | 大阪電気通信大学 | 日本 | BL17SU | 9 |
11 | 2006B1567 | Au(111)微傾斜表面上の3d遷移金属ナノ構造における磁気構造 | 川合 真紀 | (独)理化学研究所 | 日本 | BL25SU | 11.375 |
12 | 2006B1572 | 二次元XAFS法による銅酸化物高温超伝導体の電子状態の深さ分解解析 | 松井 文彦 | 奈良先端科学技術大学院大学 | 日本 | BL25SU | 11.5 |
13 | 2006B1575 | ナノポーラス物質MOF-5(Zn4O(O2CC6H4CO2)3)中の吸蔵ベンゼンの構造と相転移 | 川路 均 | 東京工業大学 | 日本 | BL02B2 | 3 |
14 | 2006B1576 | チタン酸バリウムナノ粒子におけるメゾスコピック粒子構造由来の巨大誘電特性発現機構の解明 | 和田 智志 | 東京工業大学 | 日本 | BL02B2 | 3 |
15 | 2006B1577 | 酸性吸着サイトを持つ多孔性配位高分子による水素吸着メカニズムの解明 | 北川 進 | 京都大学 | 日本 | BL02B2 | 5.875 |
16 | 2006B1578 | 新規III-IV族クラスレート熱電変換材料の精密構造解析 | 谷垣 勝己 | 東北大学 | 日本 | BL02B2 | 3 |
17 | 2006B1579 | In situ 粉末X線回折による水素吸蔵ナノ合金の相分離抑制メカニズムの解明 | 山内 美穂 | 九州大学 | 日本 | BL02B2 | 3 |
18 | 2006B1580 | 1500℃級ガスタービン用Ni基超合金のクリープ・疲労損傷に伴うナノスケール組織変化分析と材質劣化原因の解明 | 鈴木 研 | 東北大学 | 日本 | BL02B2 | 3 |
19 | 2006B1582 | 特異な相互作用部位を持つ多孔性錯体に吸着した酸素分子の直接観察 | 小林 達生 | 岡山大学 | 日本 | BL02B2 | 3 |
20 | 2006B1583 | 新規スピンクロスオーバー多孔性金属錯体による動的光応答ナノ空間の精密構造決定 | 松田 亮太郎 | 九州大学 | 日本 | BL02B2 | 3 |
21 | 2006B1585 | 金電極上に自在に配列制御された一次元共役鎖のX線による構造解析 | 西原 寛 | 東京大学 | 日本 | BL02B2 | 2.875 |
22 | 2006B1588 | ナノ細孔中酸素分子1次元アレイの構造解析 | 加納 博文 | 千葉大学 | 日本 | BL02B2 | 2.75 |
23 | 2006B1589 | Effect of Structure Change of LiNi0.5Mn0.5O2 by Exposing to High Voltage on Battery Performance | Shao-Horn Yang | Massachusetts Institute of Technology | USA | BL02B2 | 6 |
24 | 2006B1593 | ホモロガス相Sb-Te,Bi-Te化合物の高分解能硬X線光電子分光 | 木舩 弘一 | 大阪府立大学 | 日本 | BL47XU | 6 |
25 | 2006B1594 | 高分解能硬X線光電子分光法を用いたリチウム二次電池の劣化機構解析 | 小林 弘典 | (独)産業技術総合研究所 | 日本 | BL15XU | 5.875 |
26 | 2006B1596 | 組成を制御した酸化ハフニウム薄膜の化学結合状態とバンドギャップの測定 | 三浦 英生 | 東北大学 | 日本 | BL15XU | 8.875 |
27 | 2006B1599 | 硬X線光電子分光法による相変化光ディスクの記録膜と界面層の相互作用の解析 | 中居 司 | (株)東芝 | 日本 | BL47XU | 12 |
28 | 2006B1600 | 硬X線光電子分光を用いた強相関ナノ構造の電子状態研究 | 組頭 広志 | 東京大学 | 日本 | BL47XU | 8.875 |
29 | 2006B1602 | Direct Observation of d-band Structure Change during Metal-Insulator-Transition of LiCoO2 | Shao-Horn Yang | Massachusetts Institute of Technology | USA | BL47XU | 5.875 |
30 | 2006B1603 | 硬X線光電子分光法により,温度変化に伴うMgO薄膜の電子構造と放電特性の相関解明 | 朴 英吉 | Samsung SDI Co., Ltd. | Korea | BL15XU | 9 |
31 | 2006B1604 | 硬X線光電子分光による高効率磁気トンネル接合材料の電子構造の検証 | 木村 昭夫 | 広島大学 | 日本 | BL47XU | 6 |
32 | 2006B1607 | 有機ケイ素分子のSi:1s光イオン化後のサイト選択的解離へのカスケードオージェ過程の影響の研究 | 長岡 伸一 | 愛媛大学 | 日本 | BL27SU | 9 |
33 | 2006B1608 | 内殻励起により生成されるオージェ終状態の少数希ガスクラスターからのICD電子放出 | 森下 雄一郎 | (独)産業技術総合研究所 | 日本 | BL27SU | 12 |
34 | 2006B1609 | 軟X線光電子分光による極薄ゲート絶縁膜/Si界面遷移層の原子構造の決定 | 服部 健雄 | 東北大学 | 日本 | BL27SU | 15 |
35 | 2006B1610 | 自動車排出ナノ粒子のマウス曝露による嗅覚神経を介した曝露経路の検索 | 内山 巌雄 | 京都大学 | 日本 | BL37XU | 6 |
36 | 2006B1611 | SR-XRFによる生物試料中ウランの測定 | 武田 志乃 | (独)放射線医学総合研究所 | 日本 | BL37XU | 9 |
37 | 2006B1616 | 蛍光X線分析法による窒化物半導体の結晶評価 | 宮嶋 孝夫 | ソニー(株) | 日本 | BL37XU | 6 |
38 | 2006B1617 | 徳島およびルーマニア ブカレストで採取された大気中浮遊粒子のマイクロXAFS測定 | 薮谷 智規 | 徳島大学 | 日本 | BL37XU | 6 |
39 | 2006B1620 | SOFCモデル電極のマイクロXANES測定 | 川田 達也 | 東北大学 | 日本 | BL37XU | 11.75 |
40 | 2006B1621 | 核共鳴散乱法を用いたCr系ナノ薄膜における磁気的フラストレーション効果の探査と解明 | 壬生 攻 | 名古屋工業大学 | 日本 | BL11XU | 12 |
41 | 2006B1622 | X-ray absorption study of local order changes in the Sb2Te solid-liquid phase transition | Fons Paul | (独)産業技術総合研究所 | 日本 | BL14B1 | 8.625 |
42 | 2006B1623 | リチウムイオン電池における電極最表面の充放電反応下でのその場構造解析 | 菅野 了次 | 東京工業大学 | 日本 | BL14B1 | 15 |
43 | 2006B1625 | 超熱酸素分子線によるCu(210)とCu(511)表面酸化過程における表面ステップ構造効果の光電子分光による解明 | 岡田 美智雄 | 大阪大学 | 日本 | BL23SU | 5.875 |
44 | 2006B1626 | 共鳴光電子分光法によるCe添加In2O3系透明電極薄膜の電子状態解析 | 渋谷 忠夫 | 出光興産(株) | 日本 | BL23SU | 5.875 |
45 | 2006B1627 | 光電子分光・軟X線吸収による強磁性混晶遷移金属化合物の電子状態の研究 | 牧野 哲征 | 兵庫県立大学 | 日本 | BL23SU | 7 |
46 | 2006B1628 | シリコン熱酸化過程における欠陥準位の挙動のリアルタイム光電子分光観察 | 高桑 雄二 | 東北大学 | 日本 | BL23SU | 6 |
47 | 2006B1629 | Si(110)表面上の極薄酸化膜形成時における特異な酸化反応過程の放射光・光電子分光による解析 | 末光 眞希 | 東北大学 | 日本 | BL23SU | 6 |
48 | 2006B1630 | 三次元XMCD法によるFe/Ni/Cu(100)薄膜磁性の面内および深さ方向分布の解析 | 雨宮 健太 | 高エネルギー加速器研究機構 | 日本 | BL23SU | 5.625 |
49 | 2006B1631 | 少数層多層カーボンナノチューブにおける表面修飾の軟X線光電子分光による研究 | 前田 文彦 | 日本電信電話(株) | 日本 | BL23SU | 5.625 |
50 | 2006B1634 | 鉄ベース合金ナノ粒子のX線異常散乱を利用した小角散乱および粉末回折精密測定 | 篠田 弘造 | 東北大学 | 日本 | BL15XU | 8.625 |
51 | 2006B1635 | 硬X線光電子分光法による金属/極薄High-k絶縁膜/Si積層構造の界面電子状態 | 大毛利 健治 | (独)物質・材料研究機構 | 日本 | BL15XU | 6 |
52 | 2006B1638 | GaAsSb系バッファ層を導入した自己形成InAs量子ドットの時間分解X線回折測定 | 山口 浩一 | 電気通信大学 | 日本 | BL11XU | 18 |