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2006年後期実施課題2006B一覧：戦略活用プログラム課題

問い合わせ先：利用業務部　TEL 0791-58-0961　E-mail: sp8jasri@spring8.or.jp

S/N 課題番号 課題名 実験責任者 所属 国名 BL 実施シフト数
1 2006B0101 ヒト角層内深さ方向の角層細胞間脂質の構築状態分布の解明とそれに及ぼす洗浄料の影響 國澤 直美 （株）資生堂 日本 BL40XU 5.875
2 2006B0102 熱誘起相分離による高分子微多孔膜形成過程の超小角X線散乱計測 松野 信也 旭化成（株） 日本 BL20XU 3
3 2006B0103 表面X線散乱による白金表面の構造解析 今井 英人 日本電気（株） 日本 BL13XU 6
4 2006B0105 異常分散利用微小角入射X線回折によるSGOI基板の深さ方向解析 川村 朋晃 日本電信電話（株） 日本 BL46XU 9
5 2006B0106 高エネルギー光電子分光法によるZnS-SiO2薄膜の評価 安福 秀幸 （株）リコー 日本 BL47XU 6
6 2006B0107 放射光X線回折によるIn2O3-SnO2系セラミックスの構造的研究 山下 勲 東ソー（株） 日本 BL02B2 3
7 2006B0108 燃料電池用触媒の微細構造 梅 武 （株）東芝 日本 BL19B2 6
8 2006B0109 突起状を滑るゴムの変形挙動に関する研究 網野 直也 横浜ゴム（株） 日本 BL20XU 9
9 2006B0111 X線マイクロCTによる毛髪損傷構造の可視化　 毛髪損傷の修復効果について 竹原 孝二 （株）カネボウ化粧品 日本 BL47XU 8.875
10 2006B0112 実用サイズ固体酸化物形燃料電池セル内燃料極のXAFS解析 出口 博史 関西電力（株） 日本 BL19B2 6
11 2006B0113 ZnS-SiO2薄膜の微小角入射X線小角散乱測定による評価 三浦 博 （株）リコー 日本 BL46XU 6
12 2006B0116 皮膚角層脂質構造の動的変化に基づく外用剤の開発 小幡 誉子 星薬科大学 日本 BL40B2 3
13 2006B0117 XAFSによるOLEDデバイスの電子輸送層に添加されたCsの化学状態評価 市川 祐永 セイコーエプソン（株） 日本 BL19B2 5.75
14 2006B0118 マイクロビームX線回折法を用いたヒト毛髪の水溶液中での構造の解析：染色促進剤の毛髪構造に与える影響 井上 敬文 （株）カネボウ化粧品 日本 BL40XU 5.875
15 2006B0119 固体酸化物形燃料電池セルの発電時残留応力測定 矢加部 久孝 東京ガス（株） 日本 BL09XU 9
16 2006B0123 micro-XMCDによる磁性ドットの磁化反転に関する研究 近藤 祐治 秋田県産業技術総合研究センター 日本 BL39XU 15
17 2006B0124 高エネルギー放射光による鉄道車両用ステンレス鋼溶接部の応力分布測定 松本 恵介 （財）鉄道総合技術研究所 日本 BL02B1 9
18 2006B0126 SPELEEMを活用したネオジム磁石合金の磁区構造解析と高保磁力化のための組織制御に関する研究 山本 祐義 住友金属工業（株） 日本 BL17SU 5.875
19 2006B0127 ホウ素系水素貯蔵材料の精密結晶構造解析 則竹 達夫 （株）豊田中央研究所 日本 BL02B2 3
20 2006B0128 放射光粉末回折法による粉末医薬品の結晶転移現象の構造解析に基づく評価 寺田 勝英 製剤機械技術研究会 日本 BL19B2 6
21 2006B0129 放射光粉末回折法による低含量医薬品製剤中の主薬検出感度の評価 寺田 勝英 製剤機械技術研究会 日本 BL19B2 3
22 2006B0130 テラヘルツ波長領域の放射光を用いたマッピング解析法による医薬品分散状態の評価 寺田 勝英 製剤機械技術研究会 日本 BL43IR 12
23 2006B0132 X線小角散乱による実用高強度鋼中ナノレベル析出物の粒径分布状態の解析 山田 克美 JFEスチール（株） 日本 BL19B2 5.75
24 2006B0133 走査型暗視野X線顕微鏡を用いたヒト毛髪内部構造の観察 岩本 佳倫 ラインハルト（株） 日本 BL20XU 8.75
25 2006B0135 X線強度相関法を用いたゴム中でのシリカ粒子のダイナミクスに関する研究 岸本 浩通 SRI研究開発（株） 日本 BL40XU 5.875
26 2006B0136 共晶を利用した液相拡散接合における界面挙動の観察 鈴木 裕 （株）WELCON 日本 BL20XU 6
27 2006B0138 荷重ストレス（引っ張り・曲げ）状況下での水分揮発による毛髪の物理的変形の内部構造解析とそのねぐせ改善への応用 川副 智行 （株）資生堂 日本 BL40XU 5.875
28 2006B0139 角度分解軟X線光電子分光法による極薄膜SiONのNプロファイル評価 佐藤 暢高 東芝ナノアナリシス（株） 日本 BL27SU 9
29 2006B0140 電界放出ディスプレイ用無機蛍光体の局所構造 伊東 純一 三井金属鉱業（株） 日本 BL19B2 6
30 2006B0141 Zn-Al合金の凝固組織形成過程の直接観察に関する研究 原田 寛 新日本製鐵（株） 日本 BL20B2 6
31 2006B0143 年輪中の元素分析による白頭山の巨大噴火年代の解明 光谷 拓実 （独）文化財研究所 日本 BL37XU 12
32 2006B0145 年輪中の元素分析による白頭山の巨大噴火年代の解明 光谷 拓実 （独）文化財研究所 日本 BL43IR 8.875
33 2006B0146 ＸＭＣＤ ＰＥＥＭによる次世代ＭＲＡＭ素子の磁区観察とＭＲＡＭの材料プロセス解析 大嶋 則和 日本電気（株） 日本 BL25SU 11.75
34 2006B0147 非晶質酸化物半導体薄膜トランジスタ材料の構造解析 高田 一広 キヤノン（株） 日本 BL46XU 6
35 2006B0148 光通信用デバイス中の添加元素のサイト解析 飯原 順次 住友電気工業（株） 日本 BL19B2 5.75
36 2006B0149 抗菌釉薬中のＡｇの電子状態 井須 紀文 （株）INAX 日本 BL01B1 2.875
37 2006B0150 銀イオンのコーティングによる洗濯衣類の抗菌防臭メカニズムに関する研究 小西 康裕 大阪府立大学 日本 BL01B1 3
38 2006B0151 希土類-Mg-Ni系合金の元素置換による局所構造の解明 黒葛原 実 （株）ジーエス・ユアサコーポレーション 日本 BL19B2 6
39 2006B0152 化合物半導体の電気特性安定化のための添加元素の電子状態解析 飯原 順次 住友電気工業（株） 日本 BL27SU 6
40 2006B0154 自己組織化単分子膜のGIXDによる構造解析 鳥居 昌史 （株）リコー 日本 BL13XU 3
41 2006B0157 放射性廃棄物処分場コンクリートの，微細空隙と構成物質の空間分布把握の研究 人見 尚 （株）大林組 日本 BL47XU 8.75
42 2006B0159 in-situ XAFSによる燃料電池用水蒸気改質触媒の劣化機構解明 木村 信治 新日本石油（株） 日本 BL01B1 5.875
43 2006B0160 マイクロビームX線小角散乱を用いた毛髪美容処理による毛髪ダメージの解析 梶浦 嘉夫 花王（株） 日本 BL40XU 6
44 2006B0161 ステンレス鋼の粒界での局所歪みと応力に及ぼす冷間加工の影響 有岡 孝司 （株）原子力安全システム研究所 日本 BL28B2 8.875
45 2006B0162 メタンを還元剤とするNOx選択還元反応用Pd-Pt/硫酸化ジルコニア触媒の担持金属のXAFSによる状態解析 大塚 浩文 大阪ガス（株） 日本 BL01B1 5.875
46 2006B0164 超微細加工レジスト材料のナノスケール密度分布の解明 佐藤 充 東京応化工業（株） 日本 BL46XU 6
47 2006B0165 スパッタ成膜エピタキシャル薄膜の圧電性向上のためのX線構造解析 福井 哲朗 キヤノン（株） 日本 BL13XU 5.875
48 2006B0166 XAFSによる駆動劣化燃料電池触媒の局所構造解析 向出 大平 キヤノン（株） 日本 BL19B2 3
49 2006B0167 駆動燃料電池内の水排出過程その場観察および高空間分解能化手法確立 向出 大平 キヤノン（株） 日本 BL20B2 9
50 2006B0170 極小角X線散乱によるゴムのカーボン補強の研究 山腰 哲平 豊田合成（株） 日本 BL20XU 2.875
51 2006B0171 次世代磁気ヘッド用高Bs [FeCo/(Pd,Rh,Ag)]n 超格子膜の軟X線ＭＣＤ測定による界面構造の影響評価 淡路 直樹 （株）富士通研究所 日本 BL25SU 11.75
52 2006B0173 LSIパッケージ封入後の強誘電体メモリ(FRAM)の分極特性劣化メカニズムの解明 野村 健二 （株）富士通研究所 日本 BL46XU 4.25
53 2006B0176 放射光トポグラフィによるSiC単結晶中の転位の詳細解析 山口 聡 （株）豊田中央研究所 日本 BL28B2 6
54 2006B0177 自己組織化された擬似（皮膚）細胞間脂質の開発 坂 貞徳 日本メナード化粧品（株） 日本 BL40B2 2.875
55 2006B0180 半導体上に形成した微小磁性体の磁区構造の安定性に関するSPELEEMによる研究 日比野 浩樹 日本電信電話（株） 日本 BL17SU 5.875
56 2006B0183 ひずみスキャニング法によるS45C拡散接合体の残留応力の評価 鈴木 裕 （株）WELCON 日本 BL02B1 8.75
57 2006B0184 FED用薄膜蛍光体SrGa2S4:Euのレーザ照射による結晶化機構のXAFSによる検討（2） 清野 俊明 （株）日本製鋼所 日本 BL19B2 5.875
58 2006B0185 抗菌性コントロールサンプル構築のためのタンパク質 銀複合体表面のXAFS解析 藤本 嘉明 抗菌製品技術協議会 日本 BL37XU 8.875
59 2006B0187 マイクロCTイメージングによる構造材内部き裂の可視化と破壊メカニズムの検討 佐野 雄二 （株）東芝 日本 BL19B2 8.875
60 2006B0188 ナノ触媒金属微粒子から成長した単層カーボンナノチューブの硬X線光電子分光及び微小角入射X線回折による研究 粟野 祐二 （株）富士通研究所 日本 BL47XU 8.5
61 2006B0189 単磁極ヘッドの磁化応答に関する研究 田口 香 秋田県産業技術総合研究センター 日本 BL39XU 11.875
62 2006B0190 Eu添加型新規酸化物蛍光体の粉末回折による結晶構造解析 奥本 佐登志 松下電工（株） 日本 BL02B2 3
63 2006B0193 DLC-Si膜の構造解析 伊関 崇 （株）豊田中央研究所 日本 BL46XU 6
64 2006B0194 荒れ肌モデルを用いた皮膚角層内ケラチンの構造解析 辻 恵子 （株）ナリス化粧品 日本 BL40B2 3
65 2006B0195 汚染土壌浄化技術高度化のための汚染物中ヒ素の化学形態および加熱処理時の挙動解明 原田 浩希 日立造船（株） 日本 BL01B1 9
66 2006B0196 XAFS測定によるプロパン酸化アクリル酸合成用MoVTeNbOx系触媒の結晶化過程に関する研究 屠 新林 東亞合成（株） 日本 BL19B2 6
67 2006B0197 ペロブスカイト系水素化物の局所および電子構造と水素貯蔵機能 有賀 恭一 （株）本田技術研究所 日本 BL02B2 2.75
68 2006B0198 ガスクラスターイオンビームを照射した磁性膜のダメージ層の構造解析 角田 茂 （株）日立製作所 日本 BL19B2 9.625
69 2006B0199 PDP発光材料の熱劣化メカニズム解析 張 書秀 大電（株） 日本 BL19B2 3
70 2006B0201 SPELEEMを活用したネオジム磁石合金の磁区構造解析と高保磁力化のための組織制御に関する研究 山本 祐義 住友金属工業（株） 日本 BL25SU 3
71 2006B0202 非晶質酸化物半導体薄膜トランジスタ材料の構造解析 高田 一広 キヤノン（株） 日本 BL19B2 3
72 2006B0204 ナノ触媒金属微粒子から成長した単層カーボンナノチューブの硬X線光電子分光及び微小角入射X線回折による研究 粟野 祐二 （株）富士通研究所 日本 BL13XU 3
73 2006B0205 高張力鋼溶接凝固過程のその場観察 小薄 孝裕 住友金属工業（株） 日本 BL46XU 5.75
74 2006B0206 溶液中におけるAQPKOマウスの皮膚角層構造変化の研究 中沢 寛光 関西学院大学 日本 BL40B2 6
75 2006B0207 液晶配向膜の結晶化度・分子配向と、液晶ディスプレイ特性との相関解析 酒井 隆宏 日産化学工業（株） 日本 BL19B2 8.75
76 2006B0208 ヒト皮膚三次元培養皮膚の細胞間脂質の解析 國澤 直美 （株）資生堂 日本 BL40B2 5.875
77 2006B0209 X線反射率測定による液晶配向膜の膜密度測定 木下 優子 日新イオン機器（株） 日本 BL46XU 8.875
78 2006B0210 赤色蛍光体(Ba,Sr)3MgSi2O8 賦活剤サイトのXAFSによる局所構造解析 越谷 直樹 京セラ（株） 日本 BL19B2 3
79 2006B0211 砒素・鉄・マンガン同時処理システムの性能向上へのマンガン酸化物の役割の検討 藤川 陽子 京都大学 日本 BL19B2 3
80 2006B0212 チタン表面酸化膜の構造解析 木村 正雄 新日本製鐵（株） 日本 BL46XU 8.125
81 2006B0213 真性歪を最適化したReBCO Coated Conductorの結晶成長 長村 光造 （財）応用科学研究所 日本 BL46XU 6
82 2006B0215 放射光CTイメージングによるNi基合金中の応力腐食割れ（SCC）き裂の検出 中東 重雄 （財）発電設備技術検査協会 日本 BL19B2 3
83 2006B0216 放射光イメージングを用いたフレッティング微小疲労き裂の観察と破壊力学的評価 栗村 隆之 三菱重工業（株） 日本 BL19B2 6
84 2006B0217 磁気材料シアノ架橋Sm Cr錯体の粉末有機結晶の構造解析 秋津 貴城 慶應義塾大学 日本 BL19B2 2
85 2006B0218 シックハウスガス可視化検知のためのベイポクロミック有機結晶の開発 高谷 光 大阪大学 日本 BL19B2 1.75
86 2006B0219 製造開発中医薬品原薬の製造工程における精密品質管理のための高分解能粉末X線回折 大野 正司 日産化学工業（株） 日本 BL19B2 2
87 2006B0220 ステンレス鋼の粒界での局所歪みの測定手法の検討 有岡 孝司 （株）原子力安全システム研究所 日本 BL28B2 8.875