2010年前期実施課題2010A一覧：測定代行課題
問い合わせ先：利用業務部 TEL 0791-58-0961 E-mail: sp8jasri@spring8.or.jp
S/N |
課題番号 |
実験課題名 |
実験責任者 |
実施時所属 |
所属大分類 |
研究分野 |
実施 シフト |
国名 |
BL |
成果専有 /非専有 |
1 |
2010A1804 |
XAFS測定によるセラミックス粉体およびその加工フィルムの局所構造解析 |
下平 祥貴 |
昭和電工(株) |
産業界 |
産業利用 |
1 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
2 |
2010A1807 |
ガラスの色調と鉄の化学状態との相関調査 |
西田 晋作 |
日本電気硝子(株) |
産業界 |
産業利用 |
2 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
3 |
2010A1813 |
Ir-Pt触媒の担持金属のXAFS解析 |
大塚 浩文 |
大阪ガス(株) |
産業界 |
産業利用 |
1 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
4 |
2010A1816 |
金属酸化物粉末中の微量元素の局所構造解析 |
三宅 一實 |
(株)本田技術研究所 |
産業界 |
産業利用 |
0.75 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
5 |
2010A1819 |
触媒のXAFS測定6 |
國重 敦弘 |
(株)UBE科学分析センター |
産業界 |
産業利用 |
1.5 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
6 |
2010A1899 |
酸化イオン伝導体のXAFS 解析 |
高橋 洋祐 |
(株)ノリタケカンパニーリミテド |
産業界 |
産業利用 |
0.5 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
7 |
2010A1902 |
Fe酸化物中微量元素のXAFS測定 |
青山 朋弘 |
JFEスチール(株) |
産業界 |
産業利用 |
1 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
8 |
2010A1908 |
触媒のXAFS測定7 |
國重 敦弘 |
(株)UBE科学分析センター |
産業界 |
産業利用 |
1.5 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
9 |
2010A1909 |
MgO薄膜の添加元素分析 |
森田 幸弘 |
大阪大学 |
大学等教育機関 |
産業利用 |
0.25 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
10 |
2010A1915 |
酸化物薄膜の蛍光XAFS |
田平 泰規 |
三井金属鉱業(株) |
産業界 |
産業利用 |
0.75 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
11 |
2010A1916 |
XAFSによるEu添加蛍光体の局所構造解析 |
田所 大典 |
住友化学(株) |
産業界 |
産業利用 |
0.5 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
12 |
2010A1919 |
XAFS測定によるセラミックス粉体の局所構造解析 |
下平 祥貴 |
昭和電工(株) |
産業界 |
産業利用 |
1 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
13 |
2010A1924 |
触媒のXAFS測定8 |
國重 敦弘 |
(株)UBE科学分析センター |
産業界 |
産業利用 |
1.5 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
14 |
2010A1925 |
フェライトのXAFS測定 |
小林 義徳 |
日立金属(株) |
産業界 |
産業利用 |
0.5 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
15 |
2010A1941 |
MgO薄膜の添加元素分析 |
森田 幸弘 |
大阪大学 |
大学等教育機関 |
産業利用 |
0.5 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
16 |
2010A1944 |
触媒のXAFS測定9 |
國重 敦弘 |
(株)UBE科学分析センター |
産業界 |
産業利用 |
1.25 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
17 |
2010A1945 |
ITO薄膜のXAFS測定 |
松尾 修司 |
(株)コベルコ科研 |
産業界 |
産業利用 |
0.5 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
18 |
2010A1949 |
リチウムイオン二次電池の正極材料の局所構造解析 |
小林 弘典 |
(独)産業技術総合研究所 |
国公立研究機関等 |
産業利用 |
0.5 |
日本 |
BL14B2 |
専有 |
19 |
2010A1901 |
リチウムイオン電池正極材の粉末XRD測定 |
伊村 宏之 |
(株)三菱化学科学技術研究センター |
産業界 |
産業利用 |
0.25 |
日本 |
BL19B2 |
専有 |
20 |
2010A1903 |
非晶質及び液体試料のX線散乱測定 |
斎藤 吉広 |
住友電気工業(株) |
産業界 |
産業利用 |
0.5 |
日本 |
BL19B2 |
専有 |
21 |
2010A1905 |
次世代電池用新規電極材料の創製と結晶構造解析 |
森下 正典 |
(株)ジーエス･ユアサコーポレーション |
産業界 |
産業利用 |
0.25 |
日本 |
BL19B2 |
専有 |
22 |
2010A1920 |
電池材料のXRD測定 |
下平 祥貴 |
昭和電工(株) |
産業界 |
産業利用 |
1 |
日本 |
BL19B2 |
専有 |
23 |
2010A1926 |
六方晶M型フェライトの結晶構造解析 |
尾田 悦志 |
日立金属(株) |
産業界 |
産業利用 |
0.25 |
日本 |
BL19B2 |
専有 |
24 |
2010A1927 |
粒子統計解析による結晶粒径評価 |
野崎 彰子 |
名古屋大学 |
大学等教育機関 |
産業利用 |
0.25 |
日本 |
BL19B2 |
専有 |
25 |
2010A1928 |
磁性材料のXRD測定 |
下平 祥貴 |
昭和電工(株) |
産業界 |
産業利用 |
1 |
日本 |
BL19B2 |
専有 |
26 |
2010A1929 |
固体触媒材料のXRD測定 |
下平 祥貴 |
昭和電工(株) |
産業界 |
産業利用 |
1 |
日本 |
BL19B2 |
専有 |
27 |
2010A1933 |
粉末のXRD測定2 |
國重 敦弘 |
(株)UBE科学分析センター |
産業界 |
産業利用 |
0.25 |
日本 |
BL19B2 |
専有 |
28 |
2010A1943 |
触媒のXRD測定1 |
國重 敦弘 |
(株)UBE科学分析センター |
産業界 |
産業利用 |
0.25 |
日本 |
BL19B2 |
専有 |
29 |
2010A1950 |
酸化物粉末のXRD測定 |
岡野 哲之 |
パナソニック(株) |
産業界 |
産業利用 |
0.25 |
日本 |
BL19B2 |
専有 |
30 |
2010A1811 |
タンパク質結晶のX線回折データ測定 |
吉兼 光雄 |
富士写真フイルム(株) |
産業界 |
産業利用 |
1.25 |
日本 |
BL38B1 |
専有 |
31 |
2010A1914 |
タンパク質結晶のX線回折データ測定 |
吉兼 光雄 |
富士写真フイルム(株) |
産業界 |
産業利用 |
1.5 |
日本 |
BL38B1 |
専有 |