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2011年前期実施課題2011A一覧:一般研究課題(その9)

S/N 1~50 51~100 101~150 151~200 201~250 251~300 301~350 351~400 401~415

問い合わせ先:利用業務部 TEL 0791-58-0961 E-mail: sp8jasri@spring8.or.jp

成果専有課題は「公開用課題名」を表示

S/N 課題番号 実験課題名 実験責任者 実施時所属 国名 所属分類 研究分野 実施
シフト
ビームライン 専有
/非専有
401 2011A1811 硬X線光電子分光によるSiC-MOSFETの界面状態および伝導帯オフセット分析 高橋 直子 (株)豊田中央研究所 日本 産業界 産業利用 6 BL46XU 専有
402 2011A1813 硬X線光電子分光による機能性薄膜の解析 野村 健二 (株)富士通研究所 日本 産業界 物質科学・材料科学 2 BL46XU 専有
403 2011A1818 有機薄膜の結晶性評価 (5) 伊藤 博人 コニカミノルタテクノロジーセンター(株) 日本 産業界 産業利用 1 BL46XU 専有
404 2011A1820 無機材料のHAX-PES測定 下平 祥貴 昭和電工(株) 日本 産業界 産業利用 3 BL46XU 専有
405 2011A1109 ナノポーラスを有する様々な生分解性ポリエステル高強度繊維のX線マイクロトモグラフィーによる内部構造解析とマイクロビームX線回折による局所構造解析 岩田 忠久 東京大学 日本 大学等教育機関 物質科学・材料科学 9 BL47XU 非専有
406 2011A1227 硬X線光電子分光法を用いたアモルファス酸化物半導体薄膜および多層構造界面の電子状態評価 細井 慎 ソニー(株) 日本 産業界 産業利用 6 BL47XU 非専有
407 2011A1322 X線導波管をコンデンサー光学素子とするX線結像顕微鏡 鈴木 芳生 (財)高輝度光科学研究センター 日本 国公立研究機関等 生命科学 9 BL47XU 非専有
408 2011A1388 「はやぶさ」計画における小惑星イトカワ粒子の第2ラウンド初期分析:サンプルの3次元構造と初期分析フローにおける下流破壊分析への応用 土’山 明 大阪大学 日本 大学等教育機関 地球・惑星科学 15 BL47XU 非専有
409 2011A1415 X線マイクロビーム/走査型顕微鏡を用いた高分解能原子核乾板放射線飛跡イメージングによるダークマター探索基礎技術の開発 田原 譲 名古屋大学 日本 大学等教育機関 素粒子・原子核科学 15 BL47XU 非専有
410 2011A1420 角度分解型広角対物レンズを用いた深さ分析 池永 英司 (財)高輝度光科学研究センター 日本 国公立研究機関等 物質科学・材料科学 12 BL47XU 非専有
411 2011A1453 ケーラー照明結像型X線顕微鏡による高分解能暗視野イメージング法の開発 竹内 晃久 (財)高輝度光科学研究センター 日本 国公立研究機関等 物質科学・材料科学 12 BL47XU 非専有
412 2011A1464 Linear Dichroism in Hard X-ray Photoemission from Topological Insulators Fecher Gerhard Johannes Gutenberg-University, Mainz ドイツ 海外機関 物質科学・材料科学 12 BL47XU 非専有
413 2011A1537 燃料電池白金電極触媒に対するX線ラミノグラフィー法を用いた3次元XAFS計測 唯 美津木 自然科学研究機構 分子科学研究所 日本 国公立研究機関等 化学 9 BL47XU 非専有
414 2011A1558 硬X線光電子分光法による半導体材料の解析 佐藤 暢高 東芝ナノアナリシス(株) 日本 産業界 産業利用 6 BL47XU 専有
415 2011A1569 HAXPESによるGe-MOSにおける金属/GeO2界面構造の評価 安居 麻美 (株)東レリサーチセンター 日本 産業界 産業利用 3 BL47XU 専有