Quick XAFS (QXAFS)
問い合わせ番号
SOL-0000001211
ビームライン
BL01B1（XAFS I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金 |
| C. 手法 | 吸収、及びその二次過程 |
| D. 手法の詳細 | XAFS, EXAFS, XANES |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（直線）, 時分割（比較的遅い）, 室温 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 化学状態, 局所構造, 機能構造相関 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 半導体, 電子部品, ディスプレイ, 記憶装置, 電池, 機械, 金属, 建設, 環境, 化学製品, 工業材料 |
|---|---|
| 階層2 | 化合物半導体, コンデンサー, LCD, PDP、FED, HD、MO, CD-R、DVD, 二次電池、太陽電池, 燃料電池, 触媒, 繊維, 環境物質, 日用品（シャンプー,化粧品,歯磨き粉など） |
| 階層3 | 蛍光体, 磁性層, 電極, 焼却灰, タンパク質 |
| 階層4 | 局所構造, 電子状態, 価数, 化学状態 |
| 階層5 | XAFS, NEXAFS |
分類
A80.20 金属・構造材料, A80.30 無機材料, A80.32 有機材料, A80.34 触媒化学, M40.10 XAFS
利用事例本文
XAFS method is a powerful technique to study local structure (distance, coordination number, species of neighbor atoms) and local electronic structure (valence, species of neighbor atoms) of selected elements both in crystalline states and in non-crystalline states. Quick XAFS (QXAFS) mode is a recently developed technique to measure XAFS spectra in a short time. At present, most of the transmission XAFS measurements in BL01B1 are performed in the QXAFS mode, and high quality data can be taken in 3-15 min (20-50% compared with a conventional step-scanning mode). A time-resolved QXAFS mode is possible with a time resolution of seconds to tenth seconds. Unlike energy dispersive XAFS (DXAFS), QXAFS can be used for the fluorescence and conversion electron yield mode.
Fig. Comparison between Pd K-edge EXAFS oscillations of Pd foil obtained by QXAFS and step scan XAFS.
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
第7回XAFS討論会予稿集
測定手法
QXAFS method is performed by scanning monochromator continuously and measuring XAFS data. The minimum time resolution of QXAFS is limited by the maximum scanning speed of the Bragg angle of the monochromator. In actual experiments, however, the time resolution is determined by spectral quality.
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
研究会プレゼン資料
測定準備に必要なおおよその時間
2 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| XAFS Measurement System | Measurement of XAFS spectra | 3.8-113 keV |
| Lytle Detector | Measurement of XAFS spectra of dilute sample and thin film | concentration: 1000 ppm, thickness > 10 nm |
| CEY Detector | Measurement of XAFS spectra of dense thin film | thickness > 0.5 nm |
| Ionization Chamber | Measurement of transmission mode XAFS | concentration > 1000 ppm |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| 第7回XAFS討論会予稿集 |
関連する手法
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
同種実験は本ビームラインの課題の30%以上を占めている
最近2年以内に導入した装置を使った事例
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
初心者でもOK
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
1シフト以下