金属内包フラーレンLa2@C80の局所構造解析
Inquiry number
SOL-0000001256
Beamline
BL01B1 (XAFS I)
Scientific keywords
| A. Sample category | inorganic material |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | metal, alloy, amorphous, glass |
| C. Technique | absorption and its secondary process |
| D. Technique (detail) | XAFS, EXAFS, XANES |
| E. Particular condition | polarization (linear), room temperature |
| F. Photon energy | X-ray (> 40 keV) |
| G. Target information | chemical state, chemical bonding, molecular structure, local structure |
Industrial keywords
| level 1---Application area | display, cell (battery), Chemical product, industrial material |
|---|---|
| level 2---Target | catalysis |
| level 3---Target (detail) | TFT |
| level 4---Obtainable information | local structure, electronic state, chemical state |
| level 5---Technique | XAFS, NEXAFS |
Classification
A80.30 inorganic material, M40.10 XAFS
Body text
本事例では金属内包フラーレンLa2@C80に対してLa-K吸収端におけるXAFS測定を行い、局所構造解析を行いました。EXAFS解析からは、目的元素の周囲の局所構造（近接原子間の距離、配位数、原子種）に関する情報が得られます。また、XANES解析からは、目的元素の電子構造（価数、近接原子種）に関する情報が得られます。解析の結果、+3価のLaがC80ケージ内で図のような2核体で存在することが分かりました。
図 La2@C80のモデル構造
[ Y. Kubozono, Y. Takabayashi, S. Kashino, M. Kondo, T. Wakahara, T. Akasaka, K. Kobayashi, S. Nagase, S. Emura and K. Yamamoto, Chemical Physics Letters 335, 163-169 (2001), Fig. 3,
©2001 Elsevier B. V. ]
Source of the figure
Original paper/Journal article
Journal title
Y. Kubozono et al., Chem. Phys. Let, 335, (2001) 163
Figure No.
3
Technique
濃度の比較的高い試料に対するXAFSスペクトルは、目的元素の吸収端付近で、試料によるX線吸収量をX線エネルギーの関数として測定することで得られます（透過XAFS法）。周期律表のSnからEu付近までの元素では、L3吸収端よりもK吸収端で計測する方がメリット（高空間分解能データ、多電子励起の影響が小など）があります。QXAFSモードで計測すると計測時間は、1測定あたり10-15分程度です。
図 透過法XAFSの装置配置
Source of the figure
Private communication/others
Description
講習会プレゼン資料
Required time for experimental setup
2 hour(s)
Instruments
| Instrument | Purpose | Performance |
|---|---|---|
| XAFS測定装置 | XAFSスペクトルの計測 | 3.8-113 keV |
| イオンチェンバー | 透過法XAFSの測定 | 濃度：1000 ppm以上 |
References
| Document name |
|---|
| Y. Kubozono et al., Chem. Phys. Let, 335, (2001) 163. |
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Questionnaire
The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
This solution is an application of a main instrument of the beamline.
Ease of measurement
Easy
Ease of analysis
Middle
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Less than one shift