Charge stripe order
問い合わせ番号
SOL-0000000892
ビームライン
BL02B1（単結晶構造解析）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 超伝導体, 結晶性固体, 結晶 |
| C. 手法 | Ｘ線回折, Ｘ線弾性散乱 |
| D. 手法の詳細 | 広角散乱 |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（直線）, 低温（〜液体ヘリウム） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 構造解析, 結晶構造, 構造変化, 相転移 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 電子部品, 電池, 工業材料 |
|---|---|
| 階層2 | 二次電池、太陽電池 |
| 階層3 | 電極 |
| 階層4 | 結晶構造 |
| 階層5 | 回折 |
分類
A80.30 無機材料, M10.10 単結晶回折
利用事例本文
Single crystal x-ray diffraction is a powerful technique to study the periodic arrangement of atoms in materials. Using this technique, one can measure the crystal structure of specimens. By using synchrotron radiation, it can be detected a slight modulation in crystal structure which is never detected by the conventional x-ray source. The figure shows scan profiles of the (1.76, K, 0.5) superlattice reflections of La1.875Ba0.125SrxCuO4. These data provides structural information such as periodicity, propagation direction and correlation length of the charge stripe order which suppresses high-Tc superconductivity. Thereby, it is found that there exists the strong correlation between the charge stripe order pattern and the structural symmetry of the crystal.
[ H. Kimura, H. Goka, M. Fujita, Y. Noda, L. Yamada and N. Ikeda, Physical Review B 67, 140503(R) (2003), Fig. 2,
©2003 American Physical Society ]
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原著論文/解説記事
誌名
Phys. Rev. B 67, 140503(R) (2003)
図番号
2
測定手法
A single crystal diffraction experiment is a powerful technique to study the structure of materials in an atomic scale. The technique is applicable to any crystalline material and provides knowledge about atomic scale structural information.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
12 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| 4-circle diffractometer | diffraction intensity measurement | equiped with refrigerator |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| H. Kimura et. al., Phys. Rev. B 67, 140503 (2003). |
関連する手法
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
1シフト以下