Structure determination of a IPR-violating metallofullerene, Sc2@C66
問い合わせ番号
SOL-0000000955
ビームライン
BL02B2（粉末結晶構造解析）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 有機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 半導体, 結晶性固体, 結晶 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 粉末結晶構造解析 |
| E. 付加的測定条件 | 室温 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 分子構造, 構造解析, 結晶構造, 電荷密度 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 半導体 |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 結晶構造 |
| 階層5 | 回折 |
分類
A80.12 半導体・電子材料, M10.20 粉末結晶回折
利用事例本文
Powder diffraction is a powerful technique to study crystal structures. Using this technique, one can measure structural parameters such as lattice parameters, atomic positions, etc of crystalline materials. By using synchrotron radiation one can also obtain charge density level structures closely related with physical properties as well as structural parameters. The figure shows charge density distributions obtained by analyzing diffraction data of a metallofullerene, Sc2@C66. These data reveal the fact that the IPR-violating metallofullerene is to be found.
Fig. Charge densities (left) and the structural model (right) of Sc2@C66.
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
SPring-8 利用者情報, 6 (2001) 116.
図番号
4
測定手法
Powder diffraction using synchrotron radiations a powerful technique to study crystal structures. The technique is applicable to a very small amount of powder samples of several milligrams and provides knowledge about structures of novel materials.
Fig. A large Debye-Scherrer camera.
画像ファイルの出典
BL評価プレゼン資料
測定準備に必要なおおよその時間
1 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Large Debye-Scherrer camera | Powder diffraction | Camera radius: 286.48mm, Temperature: 15-1000K |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| C. R. Wang et al., Nature, 408 (2000) 426. |
関連する手法
Single crystal structure analysis
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト