大型放射光施設 SPring-8

コンテンツへジャンプする
» ENGLISH
パーソナルツール
 

Structural analysis under photo-excitation of a spin crossover complex

  • Spring8ならでは

問い合わせ番号

SOL-0000000963

ビームライン

BL02B2(粉末結晶構造解析)

学術利用キーワード

A. 試料 有機材料
B. 試料詳細 磁性体, 結晶性固体, 低分子有機材料, 結晶
C. 手法 X線回折
D. 手法の詳細 粉末結晶構造解析
E. 付加的測定条件 低温(〜液体窒素), 光照射
F. エネルギー領域 X線(4~40 keV)
G. 目的・欲しい情報 分子構造, 構造解析, 結晶構造, 構造変化, 相転移

産業利用キーワード

階層1 記憶装置
階層2 HD、MO, CD-R、DVD
階層3 磁性層
階層4 格子定数, 原子間距離, 結晶構造
階層5 回折

分類

A80.14 磁性材料, M10.20 粉末結晶回折

利用事例本文

Powder diffraction is a powerful technique to study crystal structures. Using this technique, one can measure structural parameters such as lattice parameters, atomic positions, etc of crystalline materials. By using synchrotron radiation one can also obtain charge density level structures closely related with physical properties as well as structural parameters. The figure shows diffraction data of a spin crossover complex, [Fe(ptz)6](BF4)2 under photo-excitation. These data reveal the fact that there is a novel structure only under photo-excitation.

Fig. Laser power dependence of diffraction patterns in [Fe(ptz)6[(BF4)2.

[ Y. Moritomo, K. Kato, A. Kuriki, A. Nakamoto, N. Kojima, M. Takata and M. Sakata, Journal of the Physical Society of Japan 71, 2609-2612 (2002), Fig. 1,
©2002 The Physical Society of Japan ]

 

画像ファイルの出典

所内報

誌名

SPring-8 Research Frontiers, 2001B/2002A

ページ

32

測定手法

Powder diffraction using synchrotron radiations is a powerful technique to study crystal structures. The technique is applicable to condition and under photo-irradiation and provides knowledge about photo-excited structures.

Fig. A large Debye-Scherrer camera with laser irradiation system

画像ファイルの出典

BL評価プレゼン資料

測定準備に必要なおおよその時間

1 シフト

測定装置

装置名 目的 性能
Large Debye-Scherrer camera Powder diffraction Camera radius: 286.48mm, Temperature: 15-1000K

参考文献

文献名
Y. Moritomo et al., Journal of the Physical Society of Japan, 71 (2002) 2609.

関連する手法

Single crystal structure analysis

アンケート

SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
ユーザー持ち込み装置を使った

測定の難易度

熟練が必要

データ解析の難易度

中程度

図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数

4~9シフト

最終変更日