孤立五員環則を破るフラーレン分子Sc2@C66の構造決定
利用事例本文
粉末回折法は 結晶構造を調べることのできる強力な手法です。この手法を用いることで、結晶性物質の 原子位置、格子定数などを決定することができます。また、放射光を用いることにより、構造パラメータだけではなく結合状態や価数といった物性の発現と密接に関連した電子密度レベルでの構造を明らかにすることも可能です。図に示すのは、 金属内包フラーレンSc2@C66について測定した回折データを解析して得られた電子密度分布です。この結果から、孤立五員環則を破る新しい構造を持つフラーレンが存在することがわかりました。
図 Sc2@C66の電子密度分布(左)とその構造モデル(右)
学術利用キーワード
A. 試料 | 有機材料 |
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B. 試料詳細 | 半導体, 結晶性固体, 結晶 |
C. 手法 | X線回折 |
D. 手法の詳細 | 粉末結晶構造解析 |
E. 付加的測定条件 | 室温 |
F. エネルギー領域 | X線(4~40 keV) |
G. 目的・欲しい情報 | 分子構造, 構造解析, 結晶構造, 電荷密度 |
産業利用キーワード
階層1 | 半導体 |
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階層2 | |
階層3 | |
階層4 | 結晶構造 |
階層5 | 回折 |
問い合わせ番号
SOL-0000001271
最終変更日
2019-11-22 09:17