孤立五員環則を破るフラーレン分子Sc2@C66の構造決定
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粉末回折法は 結晶構造を調べることのできる強力な手法です。この手法を用いることで、結晶性物質の 原子位置、格子定数などを決定することができます。また、放射光を用いることにより、構造パラメータだけではなく結合状態や価数といった物性の発現と密接に関連した電子密度レベルでの構造を明らかにすることも可能です。図に示すのは、 金属内包フラーレンSc2@C66について測定した回折データを解析して得られた電子密度分布です。この結果から、孤立五員環則を破る新しい構造を持つフラーレンが存在することがわかりました。
図 Sc2@C66の電子密度分布（左）とその構造モデル（右）
Scientific keywords
| A. Sample category | organic material |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | semiconductor, solid-state crystal, crystal |
| C. Technique | X-ray diffraction |
| D. Technique (detail) | powder diffraction |
| E. Particular condition | room temperature |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV) |
| G. Target information | molecular structure, structure analysis, crystal structure, charge density |
Industrial keywords
| level 1---Application area | Semiconductor |
|---|---|
| level 2---Target | |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | crystal structure |
| level 5---Technique | diffraction |
Inquiry number
SOL-0000001271
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