スピンクロスオーバー錯体における光励起下構造解析
Inquiry number
SOL-0000001273
Beamline
BL02B2 (Powder Diffraction)
Scientific keywords
| A. Sample category | organic material |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | magnetic material, solid-state crystal, organic material, crystal |
| C. Technique | X-ray diffraction |
| D. Technique (detail) | powder diffraction |
| E. Particular condition | low-T (~ liquid N2), Photo irradiation |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV) |
| G. Target information | molecular structure, structure analysis, crystal structure, structural change, phase transition |
Industrial keywords
| level 1---Application area | storage device |
|---|---|
| level 2---Target | HD,MO, CD-R、DVD |
| level 3---Target (detail) | magnetic layer |
| level 4---Obtainable information | d-spacing (lattice parameter), interatomic distance, crystal structure |
| level 5---Technique | diffraction |
Classification
A80.14 magnetic materials, M10.20 powder diffraction
Body text
粉末回折法は 結晶構造を調べることのできる強力な手法です。この手法を用いることで、結晶性物質の 原子位置、格子定数などを測定することができます。また、放射光を用いることにより、構造パラメータだけではなく結合状態や価数といった物性の発現と密接に関連した電子密度レベルでの構造を明らかにすることも可能です。図に示すのは、光誘起相転移を示すスピンクロスオーバー錯体[Fe(ptz)6](BF4)2について測定した回折データです。このデータを解析した結果、光照射下においてのみ存在する励起状態の構造がわかりました。
図 [Fe(ptz)6](BF4)2における回折パターンの光強度依存性
[ Y. Moritomo, K. Kato, A. Kuriki, A. Nakamoto, N. Kojima, M. Takata and M. Sakata, Journal of the Physical Society of Japan 71, 2609-2612 (2002), Fig. 1,
©2002 日本物理学会 ]
Source of the figure
Bulletin from SPring-8
Bulletin title
SPring-8 Research Frontiers, 2001B/2002A
Page
32
Technique
放射光を用いた粉末回折法は、結晶構造を調べられる強力な測定方法です。この方法は、光照射下においても適用でき、光励起状態の結晶構造に関す情報を得ることができます。
図 光照射下粉末回折装置
Source of the figure
Presentation material for Beamline Report
Required time for experimental setup
1 shift(s)
Instruments
| Instrument | Purpose | Performance |
|---|---|---|
| 大型デバイシェラーカメラ | 粉末結晶構造解析 | カメラ半径：286.48mm, 温度：15-1000K |
References
| Document name |
|---|
| Y. Moritomo et al., Journal of the Physical Society of Japan, 71 (2002) 2609. |
Related experimental techniques
単結晶構造解析
Questionnaire
The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
This solution is an application of a main instrument of the beamline.
With user's own instruments.
Ease of measurement
With a great skill
Ease of analysis
Middle
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Four-nine shifts