Organic single crystal
問い合わせ番号
SOL-0000001154
ビームライン
BL04B2（高エネルギーＸ線回折）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 有機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 低分子有機材料 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 単結晶構造解析 |
| E. 付加的測定条件 | 低温（〜液体窒素） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 結晶構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | その他 |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 結晶構造 |
| 階層5 | 回折 |
分類
A80.32 有機材料
利用事例本文
The use of high-energy x-rays makes it possible to perform high-quality charge density analyses on single crystals. By the use of high-energy x-rays, one can collect diffraction data free from serious absorption and extinction effects in a wider range of the reciprocal space. By using this method, the electron density of a complicated organic molecule was revealed. Figure shows the electron density map showing that a carbon atom is bonding to five neighboring atoms.
Fig. Deformation density map of bis(p-fluorophenyl)[2,6-bis(p-methylphenyloxymethyl)phenyl]methylperchlorate.
[ K. Akiba, Y. Moriyama, M. Mizozoe, H. Inohara, T.Nishi, Y. Yamamoto, M. Minoura, D. Hashizume, F. Iwasaki, N. Takagi, K. Ishimura and S. Nagase, Journal of the American Chemical Society 127, 5893-5901 (2005), Fig. 2,
©2005 American Chemical Society ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
J. Am. Chem. Soc., 127, 5893-5901
図番号
2
測定手法
The use of high-energy x-rays allows us to perform structural analysis on small-size single crystals. This method reveals the complicated structure of single crystals. The use of high-energy x-rays can collect diffraction data with small absorption. Hence, this method is essential when the sample contains heavy atoms.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
8 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Weissenberg camera | to get diffraction pattern | 38 keV |
参考文献
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト