Orbital state in colossal materials Fe1-xCuxCr2S4
問い合わせ番号
SOL-0000001169
ビームライン
BL08W（高エネルギー非弾性散乱）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金, 磁性体, 結晶性固体 |
| C. 手法 | 非弾性散乱 |
| D. 手法の詳細 | 磁気散乱, コンプトン散乱 |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（円、楕円）, 低温（〜液体ヘリウム）, 磁場（> 2 T） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（>40 keV） |
| G. 目的・欲しい情報 | 電子状態、バンド構造, スピン・磁性構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 電子部品, 記憶装置 |
|---|---|
| 階層2 | HD、MO |
| 階層3 | 磁性層, 磁気ヘッド |
| 階層4 | 電子状態, 磁化, 磁気異方性 |
| 階層5 | 磁気散乱, 磁気コンプトン散乱, PEEM |
分類
A80.14 磁性材料, M25.10 磁気散乱
利用事例本文
Magnetic Compton scattering is an unique technique to study magnetic compounds. Using this technique, one can measure the spin-dependent electron momentum distribution in ferro- and ferrimagnetic compounds. When the MCP can be decomposed into a few partial profiles with the characteristic shape of a specific electronic state, the area under the partial profile gives the partial spin moment associated with that state. The figure shows the magnetic Compton profiles of FeCr2S4. These data reveal the fact that the Fe spin moments were aligned anti-parallel to that of Cr.
Fig. (a) The experimental magnetic Compton profile (MCP) (circle) and calculated FLAPW-GGA MCP (dashed line) for FeCr2S4. (b) The theoretical MCP along with the contributions from the Fe-3d orbital and Cr-3d orbital.
[ A. Deb, N. Hiraoka, M. Itou, Y. Sakurai, H. M. Palmer and C. Greaves, Physical Review B 66, 100407 (2002), Fig. 1,
©2002 American Physical Society ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
A. Deb et. al., Physical Review B, 66 (2002) 100407
図番号
1
測定手法
When the incident x-rays are circularly polarized, the scattering cross-section contains a spin-dependent term. The experimental extraction of the spin dependence results in a magnetic Compton profile (MCP), Jmag(pz), that is defined as the one-dimensional projection of the spin-polarized electron momentum distribution. The area under the MCP is equal to the total spin moment (μspin) per formula unit.
where n↑(p) and n↓(p) are the momentum densities of the majority and minority spin bands, respectively.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
4 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Magnetic Compton Scattering Spectrometer | Magnetic Compton measurement | momentum resolution 0.5 atomic unit |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| A. Deb et. al., Physical Review B, 66 (2002) 100407 |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
同種実験は本ビームラインの課題の30%以上を占めている
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト