微量な重元素や希土類の蛍光X線分析
問い合わせ番号
SOL-0000001304
ビームライン
BL08W（高エネルギー非弾性散乱）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料, 有機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 環境関連物質 |
| C. 手法 | 蛍光Ｘ線 |
| D. 手法の詳細 | 微量元素分析 |
| E. 付加的測定条件 | 室温 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（>40 keV） |
| G. 目的・欲しい情報 | 元素分析（微量） |
産業利用キーワード
| 階層1 | 環境 |
|---|---|
| 階層2 | 環境物質 |
| 階層3 | 焼却灰 |
| 階層4 | 元素分布 |
| 階層5 |
分類
A60.20 環境物質, A80.30 無機材料, A80.32 有機材料, A80.40 環境材料
利用事例本文
蛍光X線分析は物質に含まれる元素組成を調べることのできる簡便な手法です。この手法は、非破壊であり、また、100keVを超える高エネルギーＸ線を使用することで、希土類などの重元素の組成分析に敏感です。
図に示すのは、標準試料の花崗岩について測定したエネルギープロファイルです。この結果のとおり、希土類の蛍光Ｘ線ピークが分離しており、また、高い検出能力を持つことがわかります。
花崗岩標準試料 JG-1 の 蛍光X線プロファイル
[ I. Nakai, Y. Terada, M. Itou and Y. Sakurai, Journal of Synchrotron Radiation 8, 1078-1081 (2001), Fig. 2,
©2001 International Union of Crystallography ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Journal of Synchrotron Radiation, 8 (2001) 1078-1081
図番号
2
測定手法
試料に高エネルギーX線を入射し、散乱角９０度に設置したGe-半導体検出器でエネルギー分光します。測定時間は数分です。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
4 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| 高エネルギー蛍光X線スペクトロメーター | 蛍光X線分析 |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| I. Nakai, et. al. , Journal of Synchrotron Radiation, 8 (2001) 1078-1081 |
関連する手法
アンケート
ユーザー持ち込み装置を使った
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
初心者でもOK
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
1シフト以下