SPring-8, the large synchrotron radiation facility

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微量な重元素や希土類の蛍光X線分析

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Inquiry number

SOL-0000001304

Beamline

BL08W (High Energy Inelastic Scattering)

Scientific keywords

A. Sample category inorganic material, organic material
B. Sample category (detail) environmental material
C. Technique fluorescent X-rays
D. Technique (detail) trace-element
E. Particular condition room temperature
F. Photon energy X-ray (> 40 keV)
G. Target information trace element

Industrial keywords

level 1---Application area environment
level 2---Target Environmental material
level 3---Target (detail) ash
level 4---Obtainable information element distribution
level 5---Technique

Classification

A60.20 environment, A80.30 inorganic material, A80.32 organic material, A80.40 environmental materials

Body text

蛍光X線分析は物質に含まれる元素組成を調べることのできる簡便な手法です。この手法は、非破壊であり、また、100keVを超える高エネルギーX線を使用することで、希土類などの重元素の組成分析に敏感です。
図に示すのは、標準試料の花崗岩について測定したエネルギープロファイルです。この結果のとおり、希土類の蛍光X線ピークが分離しており、また、高い検出能力を持つことがわかります。

花崗岩標準試料 JG-1 の 蛍光X線プロファイル

[ I. Nakai, Y. Terada, M. Itou and Y. Sakurai, Journal of Synchrotron Radiation 8, 1078-1081 (2001), Fig. 2,
©2001 International Union of Crystallography ]

 

Source of the figure

Original paper/Journal article

Journal title

Journal of Synchrotron Radiation, 8 (2001) 1078-1081

Figure No.

2

Technique

試料に高エネルギーX線を入射し、散乱角90度に設置したGe-半導体検出器でエネルギー分光します。測定時間は数分です。

Source of the figure

No figure

Required time for experimental setup

4 hour(s)

Instruments

Instrument Purpose Performance
高エネルギー蛍光X線スペクトロメーター 蛍光X線分析

References

Document name
I. Nakai, et. al. , Journal of Synchrotron Radiation, 8 (2001) 1078-1081

Related experimental techniques

Questionnaire

With user's own instruments.

Ease of measurement

Easy

Ease of analysis

Easy

How many shifts were needed for taking whole data in the figure?

Less than one shift

Last modified