Polarization dependence of X-ray parametric down conversion
問い合わせ番号
SOL-0000001193
ビームライン
BL09XU(HAXPES I)
学術利用キーワード
A. 試料 | 無機材料, 計測法、装置に関する研究 |
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B. 試料詳細 | 結晶性固体 |
C. 手法 | X線回折 |
D. 手法の詳細 | 反射、屈折 |
E. 付加的測定条件 | 偏光(直線), 室温, 時分割(ナノ秒) |
F. エネルギー領域 | X線(4~40 keV) |
G. 目的・欲しい情報 |
産業利用キーワード
階層1 | その他 |
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階層2 | |
階層3 | |
階層4 | 電子状態 |
階層5 | 反射率, 回折 |
分類
A80.90 その他
利用事例本文
In this solution, X-ray parametric down conversion was applied to the diamond crystal to analyze the polarization dependence of the non-linear effect in X-ray region for the first time. The polarization dependence in X-ray parametric down conversion is known theoretically to be different not only from that in Thomson scattering but also from that in optical parametric conversion. By using the diamond perfect crystal and the APD detector, the detection of the non-linear effect in X-ray region at synchrotron radiation was realized. These data support the available theory regarding the polarization dependence of non-linear effect in X-ray region.
Fig. Yield of X-ray parametric down conversion as a function of rotation angle of the diamond crystal. Red solid circles: coincidence rate of two APD detectors.
Blue open circles: Bragg reflection intensity detected by one APD detector placed in the Bragg reflection direction.
画像ファイルの出典
所内報
誌名
Reaearch Frontiers 1997/1998
ページ
27
測定手法
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
時間
測定装置
参考文献
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
10シフト以上