Charge density study of Cs2Au2Br6 under pressure
問い合わせ番号
SOL-0000001214
ビームライン
BL10XU（高圧構造物性）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 超伝導体, 誘電体・強誘電体, 結晶 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 粉末結晶構造解析 |
| E. 付加的測定条件 | 高圧（DAC） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 結合状態, 電荷密度 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 記憶装置, その他 |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 電子状態, 価数 |
| 階層5 | 回折 |
分類
M10.20 粉末結晶回折
利用事例本文
The charge density study of Cs2Au2Br6 under pressure were performed by the powder x-ray diffraction at BL10XU and MEM/Rietveld analysis.It reveals that the structural change of Cs2Au2Br6 by applying pressure occurs basically at electron level, such as valence state change and chemical bonding, which may be called the electronic phase transition(M. Sakata et al., Journal of Physics and Chemistry of Solids, 65(2004)1973).
Figure. The MEM charge densities od Cs2Au2Br6 for (002) section under pressure.
[ M. Sakata, T. Itsubo, E. Nishibori, Y. Moritomo, N. Kojima, Y. Ohishi and M. Takata, Journal of Physics and Chemistry of Solids 65, 1973-1976 (2004), Fig. 6,
©2004 Pergamon Press, Elsevier Science Publishers ]
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原著論文/解説記事
誌名
Journal of Physics and Chemistry of Solids, 65(2004)1973
図番号
6
測定手法
The high pressure research beamline BL10XU is designed to perform the X-ray diffraction structure analysis under high-pressure and low/high temperature, using the high brilliance X-rays from the in-vacuum type undulator. The monochromatic and focused X-rays irradiate the sample enclosed in a DAC system, which can generate the pressure up to 300 GPa. The most of the conventional limitations (extremely small size sample area (<100mm), limited diffraction windows, x-ray absorption by diamond and so on) for the DAC high pressure diffraction experiment was extended and upgraded to the high resolution, high angular resolution and high counting statistics diffraction experiment as well as rapid data measurement.
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BL評価プレゼン資料
測定準備に必要なおおよその時間
2 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| DAC diffractometer | powder x-ray diffraction | powder x-ray diffraction under pressure |
参考文献
関連する手法
Powder x-ray diffraction, single crystal x-ray diffraction, neutron diffraction
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト