High-resolution and high-intensity powder diffractometer at BL15XU
問い合わせ番号
SOL-0000000872
ビームライン
BL15XU（理研 物質科学III）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 絶縁体・セラミックス, 結晶 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 粉末結晶構造解析 |
| E. 付加的測定条件 | 低温（〜液体ヘリウム） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 構造解析, 結晶構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 化学製品, 工業材料 |
|---|---|
| 階層2 | 触媒 |
| 階層3 | |
| 階層4 | 結晶構造 |
| 階層5 | 回折 |
分類
M10.20 粉末結晶回折
利用事例本文
Synchrotron X-ray powder diffraction method is a useful method for crystal structure analysis. High-resolution and high-intensity powder diffractometer at BL15XU is suitable for crystal structure analysis of complicated structure materials such as zeolites. The combination of undulator light source and high-resolution diffractometer has achieved to obtain high-angular and high-intensity powder diffraction data and gives precise crystal structure analysis results.
The figure shows Rietveld fitting result of the powder diffraction data of synthetic zeolite, ZSM5. High quality data gives good fitting result and good refinement result of crystal structure.
[ T. Ikeda, A. Nisawa, M. Okui, N. Yagi, H. Yoshikawa and S. Fukushima, Journal of Synchrotron Radiation 10, 424-429 (2003), Fig. 6,
©2003 International Union of Crystallography ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
J.Synchrotron Rad.(2003),10,424-429
図番号
Figure 6
測定手法
Powder X-ray diffraction is an effective way to analyze crystal structure. This method can be applied to the material, of which single crystal cannot be obtained. The detailed structure can be refined by Rietveld method and electron density can be calculated Maximum Entropy Method. The subject for powder diffraction method spreads day by day.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
8 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| High-resolution and high-intensity powder diffractometer | Powder Crystal Structure Analysis |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| High-resolution and high-intensity powder diffractometer at BL15XU in SPring-8, J.Synchrotron Rad.(2003). 10, 424-429 |
関連する手法
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト