高分解能大強度粉末X線回折装置
問い合わせ番号
SOL-0000001373
ビームライン
BL15XU（理研 物質科学III）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 絶縁体・セラミックス, 結晶 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 粉末結晶構造解析 |
| E. 付加的測定条件 | 低温（〜液体ヘリウム） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 構造解析, 結晶構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 化学製品, 工業材料 |
|---|---|
| 階層2 | 触媒 |
| 階層3 | |
| 階層4 | 結晶構造 |
| 階層5 | 回折 |
分類
M10.20 粉末結晶回折
利用事例本文
放射光を用いた粉末Ｘ線回折法は結晶構造を調べることのできる強力な手法です。ＢＬ１５ＸＵの高精度大強度粉末Ｘ線回折計では、ゼオライトなどの複雑な構造を有する物質の精密な結晶構造解析に適しています。SPring8のアンジュレータ光源と精密２軸回折計の組み合わせにより世界でも有数の角度分解能と大強度を達成し高精度な粉末Ｘ線結晶構造解析が可能です。
図に示すのは、新規な人工ゼオライトＺＳＭ５について測定したＲｉｅｔｖｅｌｄ法による粉末プロファイルのフィッティング結果です。良好なフィッティング結果が得られこの結晶の構造モデルの精密化が達成できました。
[ T. Ikeda, A. Nisawa, M. Okui, N. Yagi, H. Yoshikawa and S. Fukushima, Journal of Synchrotron Radiation 10, 424-429 (2003), Fig. 6,
©2003 International Union of Crystallography ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
J.Synchrotron Rad.(2003),10,424-429
図番号
Figure 6
測定手法
粉末Ｘ線回折は、結晶構造を調べられる有効な測定方法です。この方法は、単結晶を得られない物質にも適用でき、リートベルト法やマキシマムエントロピー法により詳細な結晶構造に関する情報を得ることができます。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
8 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| 放射光用高精度粉末Ｘ線回折装置 | 粉末結晶構造解析 |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| High-resolution and high-intensity powder diffractometer at BL15XU in SPring-8, J.Synchrotron Rad.(2003). 10, 424-429 |
関連する手法
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト