SPring-8, the large synchrotron radiation facility

Inquiry number

SOL-0000001373

Beamline

BL15XU (RIKEN Materials Science III)

Scientific keywords

A. Sample category	inorganic material
B. Sample category (detail)	insulator, ceramics, crystal
C. Technique	X-ray diffraction
D. Technique (detail)	powder diffraction
E. Particular condition	low-T (~ liquid He)
F. Photon energy	X-ray (4-40 keV)
G. Target information	structure analysis, crystal structure

Industrial keywords

level 1---Application area	Chemical product, industrial material
level 2---Target	catalysis
level 3---Target (detail)
level 4---Obtainable information	crystal structure
level 5---Technique	diffraction

Classification

M10.20 powder diffraction

Body text

放射光を用いた粉末Ｘ線回折法は結晶構造を調べることのできる強力な手法です。ＢＬ１５ＸＵの高精度大強度粉末Ｘ線回折計では、ゼオライトなどの複雑な構造を有する物質の精密な結晶構造解析に適しています。SPring8のアンジュレータ光源と精密２軸回折計の組み合わせにより世界でも有数の角度分解能と大強度を達成し高精度な粉末Ｘ線結晶構造解析が可能です。

図に示すのは、新規な人工ゼオライトＺＳＭ５について測定したＲｉｅｔｖｅｌｄ法による粉末プロファイルのフィッティング結果です。良好なフィッティング結果が得られこの結晶の構造モデルの精密化が達成できました。

[ T. Ikeda, A. Nisawa, M. Okui, N. Yagi, H. Yoshikawa and S. Fukushima, Journal of Synchrotron Radiation 10, 424-429 (2003), Fig. 6,
©2003 International Union of Crystallography ]

Source of the figure

Original paper/Journal article

Journal title

J.Synchrotron Rad.(2003),10,424-429

Figure No.

Figure 6

Technique

粉末Ｘ線回折は、結晶構造を調べられる有効な測定方法です。この方法は、単結晶を得られない物質にも適用でき、リートベルト法やマキシマムエントロピー法により詳細な結晶構造に関する情報を得ることができます。

Source of the figure

No figure

Required time for experimental setup

8 hour(s)

Instruments

Instrument	Purpose	Performance
放射光用高精度粉末Ｘ線回折装置	粉末結晶構造解析

References

Document name
High-resolution and high-intensity powder diffractometer at BL15XU in SPring-8, J.Synchrotron Rad.(2003). 10, 424-429

Related experimental techniques

Questionnaire

This solution is an application of a main instrument of the beamline.

Ease of measurement

Middle

Ease of analysis

With a great skill

How many shifts were needed for taking whole data in the figure?

Four-nine shifts