Local structure of blue phosphor BAM
問い合わせ番号
SOL-0000000891
ビームライン
BL19B2（X線回折・散乱 II）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 絶縁体・セラミックス, 結晶 |
| C. 手法 | 吸収、及びその二次過程 |
| D. 手法の詳細 | XAFS, EXAFS |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（直線）, 室温 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 結合状態, 局所構造, 構造変化, 機能構造相関, 元素分析（微量） |
産業利用キーワード
| 階層1 | ディスプレイ |
|---|---|
| 階層2 | PDP、FED |
| 階層3 | 蛍光体 |
| 階層4 | 局所構造 |
| 階層5 | XAFS |
分類
A80.30 無機材料, M40.10 XAFS
利用事例本文
In this solution, Eu LⅢ-edge EXAFS technique was applied to a blue-light-emitting europium-doped BaMgAl10O17(BAM) to analyze the local structure around doped europium. EXAFS spectra reveal the local structure around the target atom. These data reveal the fact that the mechanism of fading of blue light emission from BAM and revival of oxidized BAM by annealing in a reducing atmosphere.
Radial structure functions of BAM
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
本間作
測定手法
EXAFS is a unique technique to study local structure. The technique is applicable to crystal, amorphous, liquid contained a very small quantity of elements and provides knowledge about local structure(kind of element, coordination number, distance) of the element.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
2 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| XAFS | acquisition of XAFS spectrum | 3.8keV-72keV |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| X線吸収分光法－XAFSとその応用－太田俊明編 |
関連する手法
DAFS, magnetic EXAFS, grazing incidence X-ray diffraction
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト