Local structure around Mn in Ba8Mn2Ge44
問い合わせ番号
SOL-0000000953
ビームライン
BL19B2（X線回折・散乱 II）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 半導体, 誘電体・強誘電体 |
| C. 手法 | 吸収、及びその二次過程 |
| D. 手法の詳細 | EXAFS |
| E. 付加的測定条件 | 室温 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 局所構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 工業材料, その他 |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 局所構造 |
| 階層5 | XAFS |
分類
A80.30 無機材料, A80.40 環境材料, M40.10 XAFS
利用事例本文
In this solution, Ag K-edge and Mn K-edge EXAFS techniques were applied to Ge-based clathrates Ba8Mn2Ge44 and Ba8Ag6Ge40 to analyze the local structure around doped Mn and Ag. EXAFS spectra reveal the local structure around the target atom. These data reveal the fact that doped Mn and Ag are in the same circumstance in clathrates.
Radial structural functions around Ag in Ba8Ag6Ge40 (read curve) and around Mn in Ba8Mn2Ge44 (blue curve).
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
広沢 作成
測定手法
EXAFS is a unique technique to study local structure. The technique is applicable to crystal, amorphous, liquid contained a very small quantity of elements and provides knowledge about local structure(kind of element, coordination number, distance) of the element.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
4-6 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| XAFS | XAFS spectrum measurement | 3.8-72eV |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| X線吸収分光法－XAFSとその応用－太田俊明編 |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト