放射線触媒の反応機構解析に関する研究
問い合わせ番号
SOL-0000001476
ビームライン
BL22XU（JAEA 重元素科学I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 半導体 |
| C. 手法 | 吸収、及びその二次過程 |
| D. 手法の詳細 | |
| E. 付加的測定条件 | 室温, 電場 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 機能発現, 電子状態、バンド構造, 光（Ｘ線）による反応 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 環境, 化学製品 |
|---|---|
| 階層2 | 触媒 |
| 階層3 | |
| 階層4 | 化学状態 |
| 階層5 | XAFS |
分類
A40.40 表面・界面化学, A60.20 環境物質, A80.12 半導体・電子材料, A80.34 触媒化学, A80.36 電気化学, M40.10 XAFS
利用事例本文
光触媒にX線を照射したときの効果について調べた例です。図に示すのは、TiO2にTi-K吸収端近傍のX線を照射したときの光電流値をX線エネルギーに対してプロットしたものです。この結果から、TiO2にX線を照射しても、紫外線を照射したときと同じ光触媒反応が起きることがわかりました。
Figure X-ray energy dependencies of photocurrent (triangles),
rest potential (circles), fluorescence intensity (squares)
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
筆者(原研、田村さん）のデーター
測定手法
X線照射エネルギーを変化させながら照射し、そのときの光電流や光電位を測定した。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
3 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| ポテンショスタット | 電極電位の制御 |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| 原研 関西研究所年報2003, 90 |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト