高温高圧その場観察角度分散型X線回折法による液体 CdTe の圧力誘起構造変化
問い合わせ番号
SOL-0000001477
ビームライン
BL22XU（JAEA 重元素科学I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金, 半導体, 非晶質、ガラス, 液体・融体 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 粉末結晶構造解析, 広角散乱 |
| E. 付加的測定条件 | 高圧（大型プレス）, 高温（>>500度） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV), Ｘ線（>40 keV） |
| G. 目的・欲しい情報 | 結合状態, 局所構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 半導体 |
|---|---|
| 階層2 | 化合物半導体 |
| 階層3 | |
| 階層4 | 局所構造 |
| 階層5 | 回折 |
分類
A80.12 半導体・電子材料, M10.20 粉末結晶回折
利用事例本文
高温高圧その場観察角度分散型X線回折法は、温度や圧力によって引き起こされる物質の構造変化を知ることができる強力な手法です。この手法を用いることで、結晶固体だけでなく、液体やガラスの高温高圧下の構造を測定することができます。BL22XUの高輝度高エネルギー単色X線によって、従来の高温高圧エネルギー分散型X線回折法に比べ、より精密なデータを迅速に収集することが可能になりました。図に示すのは、液体CdTeについて測定した構造因子S(Q)の圧力変化です。この結果から、局所構造が4配位から6配位へと急激に変化していくことがわかりました。
図 液体CdTeの構造因子S(Q)の圧力変化
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
日本原子力研究所の服部高典研究員
測定手法
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
48 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| キュービック型マルチアンビルプレス | 高温高圧下でのその場観察X線回折･吸収実験 | 発生温度圧力：室温で約12GPa、約2000Kで約6GPa |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| T.Kinoshita, T.Hattori, T.Narushima and K.Tsuji, Phys.Rev.B, 72, 060102(R) (2005) |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト