高温高圧その場観察角度分散型X線回折法による液体 CdTe の圧力誘起構造変化
Inquiry number
SOL-0000001477
Beamline
BL22XU (JAEA Actinide Science I)
Scientific keywords
| A. Sample category | inorganic material |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | metal, alloy, semiconductor, amorphous, glass, liquid, melt |
| C. Technique | X-ray diffraction |
| D. Technique (detail) | powder diffraction, wide angle scattering |
| E. Particular condition | high pressure (press), high-T (> 500 C) |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV), X-ray (> 40 keV) |
| G. Target information | chemical bonding, local structure |
Industrial keywords
| level 1---Application area | Semiconductor |
|---|---|
| level 2---Target | compound semiconductor |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | local structure |
| level 5---Technique | diffraction |
Classification
A80.12 semiconductor, M10.20 powder diffraction
Body text
高温高圧その場観察角度分散型X線回折法は、温度や圧力によって引き起こされる物質の構造変化を知ることができる強力な手法です。この手法を用いることで、結晶固体だけでなく、液体やガラスの高温高圧下の構造を測定することができます。BL22XUの高輝度高エネルギー単色X線によって、従来の高温高圧エネルギー分散型X線回折法に比べ、より精密なデータを迅速に収集することが可能になりました。図に示すのは、液体CdTeについて測定した構造因子S(Q)の圧力変化です。この結果から、局所構造が4配位から6配位へと急激に変化していくことがわかりました。
図 液体CdTeの構造因子S(Q)の圧力変化
Source of the figure
Private communication/others
Description
日本原子力研究所の服部高典研究員
Technique
Source of the figure
No figure
Required time for experimental setup
48 hour(s)
Instruments
| Instrument | Purpose | Performance |
|---|---|---|
| キュービック型マルチアンビルプレス | 高温高圧下でのその場観察X線回折･吸収実験 | 発生温度圧力：室温で約12GPa、約2000Kで約6GPa |
References
| Document name |
|---|
| T.Kinoshita, T.Hattori, T.Narushima and K.Tsuji, Phys.Rev.B, 72, 060102(R) (2005) |
Related experimental techniques
Questionnaire
The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
Ease of measurement
With a great skill
Ease of analysis
With a great skill
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Four-nine shifts