Element specific magnetic hysteresis loops of AlMnFeGe spin-glass alloy
問い合わせ番号
SOL-0000001172
ビームライン
BL25SU(軟X線固体分光)
学術利用キーワード
A. 試料 | 無機材料 |
---|---|
B. 試料詳細 | 金属・合金, 磁性体 |
C. 手法 | 吸収、及びその二次過程 |
D. 手法の詳細 | MCD, LD |
E. 付加的測定条件 | 偏光(円、楕円), 超高真空, 表面, 低温(〜液体ヘリウム), 磁場(< 2 T) |
F. エネルギー領域 | 軟X線(<2 keV) |
G. 目的・欲しい情報 | スピン・磁性構造 |
産業利用キーワード
階層1 | 記憶装置, 工業材料 |
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階層2 | HD、MO |
階層3 | 磁性層 |
階層4 | 磁化 |
階層5 | XMCD |
分類
A30.20 表面界面物性, A80.14 磁性材料, M40.40 軟X線分光
利用事例本文
X-ray magnetic circular dichroism (XMCD) is a powerful tool to study magnetic properties of materials. XMCD gives information of electronic state and magnetic moments. Element specificity is inherent at the absorption edges, which is a great advantage of XMCD. Figure shows ESMH of Al40Mn25Fe15Ge20 quasicrystal at the Mn and Fe L2,3-edges at 25K.At 25K,the magnetic property of Al40Mn25Fe15Ge20 quasicrystal has been characterized as the spin glass system of Tg=41K. A significant difference has been found in the ESMH loops between Mn and Fe in the quasicrystal, where only the Mn loop has an obvious remanent-like magnetization. This result of ESMH has suggested that Mn and Fe magnetic moments have different magnetic viscosity in the spin-glass quasicrystal.
[ T. Nakamura, Y. Yokoyama, N. Kamakura, T. Matsushita, T. Hirono, T. Muro and K. Kobayashi, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 238, 251-254 (2005), Fig. 2,
©2005 Elsevier Science Publisher ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
T. Nakamura et al., Nucl. Instr. and Meth. B, 238 (2005) 251-254
図番号
2
測定手法
XMCD is defined as the difference of absorption coefficients between the left- and right handed circularly polarized soft x-rays .XMCD signal is recorded synchronizing with the helicity switching by 1 Hz using the twin helical undulators. XMCD spectrum and ESMH are obtained by rotating the grating angle and the magnetic field, respectively. The present example was measured using the electromagnet type XMCD spectrometer installed at BL25SU.
[ T. Nakamura, T. Muro, F.-Z. Guo, T. Matsushita, T. Wakita, T. Hirono, Y. Takeuchi and K. Kobayashi, Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 144-147, 1035-1038 (2005), Fig. 2,
©2005 Elsevier Science Publisher ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
T. Nakamura et. al, J. Elecron. Spectrosc. and Relat Phenom. 144-147, 1035-1038 (2005).
図番号
1
測定準備に必要なおおよその時間
4 時間
測定装置
装置名 | 目的 | 性能 |
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Magnetic Circular Dichroism Measurement System (MCD) | Measurements of ESMH | 1.9 T, 16K - 300K |
参考文献
文献名 |
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T. Nakamura et. al, J. Elecron. Spectrosc. and Relat Phenom. 144-147, 1035-1038 (2005). |
T. Muro et al., AIP conference proceedings 705, 1051 (2004). |
関連する手法
ESMH using hard x-ray at the BL39XU, VSM, SQUID, PEEM, Kerr effect, Mossbauer spectroscopy
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
同種実験は本ビームラインの課題の30%以上を占めている
最近2年以内に導入した装置を使った事例
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
初心者でもOK
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2~3シフト